Wykaz publikacji wybranego autora

Konstanty Marszałek, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-0564-5743 orcid iD

ResearcherID: G-6646-2016

Scopus: 6603361571

PBN: 5e70922c878c28a047391190

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Magnetron sputtered multilayer coatings of $Ti/Ni$ / K. W. MARSZAŁEK, R. MANIA, J. Morgiel // W: Materiais 2013 : international conference : Coimbra, Portugal, March 25–27 : book of abstracts / University of Coimbra. — [Portugal : University of Coimbra], [2013]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 71

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Wide band antireflective coatings $Al_{2}O_{3}/HfO_{2}/MgF_{2}$ for UV region / P. Winkowski, K. W. MARSZAŁEK // W: Electron Technology Conference 2013 : Ryn, Poland, 16–20 April, 2013 / eds. Paweł Szczepański, Ryszard Kisiel, Ryszard S. Romaniuk. — [Bellingham] : SPIE, cop. 2013. — (Proceedings of SPIE / The International Society for Optical Engineering ; ISSN 0277-786X ; vol. 8902). — ISBN: 9780819495211. — S. 890228-1–890228-5. — Bibliogr. s. 890228-4–890228-5, Abstr.

  • keywords: antireflective coatings, thin film deposition, optical measurements

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1117/12.2030511