Wykaz publikacji wybranego autora

Konstanty Marszałek, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-0564-5743 orcid iD

ResearcherID: G-6646-2016

Scopus: 6603361571

PBN: 5e70922c878c28a047391190

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Mikrostrukturyzacja powierzchni Si przy pomocy laserowej litografii interferencyjnej — Micropaterning of silicon surface by direct laser interference litography / Maciej Lorens, Yevhen Zabila, Michał Krupiński, Marcin Perzanowski, Katarzyna Suchanek, Konstanty MARSZAŁEK, Marta Marszałek // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2011 R. 52 nr 8, s. 65–67. — Bibliogr. s. 67, Streszcz., Summ.. — IX Konferencja Techniki Próżni i Workshop on Field Emission from Carbonaceous Materials : Cedzyna, 6–9 czerwca 2011

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2

  • Stanowisko do nanoszenia warstw (TiAl)N na węgliki spiekane — Equipment for deposition of the (TiAl)N coatings on sintered carbide / Konstanty MARSZAŁEK, Ryszard MANIA // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2011 R. 52 nr 8, s. 70–72. — Bibliogr. s. 72, Streszcz., Summ.. — IX Konferencja Techniki Próżni i Workshop on Field Emission from Carbonaceous Materials : Cedzyna, 6–9 czerwca 2011

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Ryszard Mania

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3

  • System pomiarowy do badania charakterystyk cienkowarstwowych układów elektrochromowych — The measuring system to investigation of profiles of thin-layer arrangements the electrochromic / Konstanty MARSZAŁEK, Zbigniew SOBKÓW, Tomasz STAPIŃSKI // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2011 R. 52 nr 8, s. 68–69. — Bibliogr. s. 69, Streszcz., Summ.. — IX Konferencja Techniki Próżni i Workshop on Field Emission from Carbonaceous Materials : Cedzyna, 6–9 czerwca 2011

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Stapiński, Zbigniew Stanisław Sobków

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4

  • Właściwości optyczne i strukturalne warstw elektrochromowych ${WO_{3}}$ — Optical and structural properties of the electrochromic ${WO_{3}}$ thin films / Konstanty MARSZAŁEK, Henryk JANKOWSKI, Barbara SWATOWSKA, Marcin Perzanowski, Tomasz STAPIŃSKI // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2011 R. 52 nr 11, s. 39–40. — Bibliogr. s. 40, Streszcz., Summ.. — TJ & nanoIP : XII ogólnopolskie seminarium „Techniki jonowe” połączone z II Zimową Szkołą „Nanoinżynieria powierzchni” : 2–5 marca 2011, Szklarska Poręba

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Henryk Jankowski, Tomasz Stapiński, Barbara Swatowska

    cyfrowy identyfikator dokumentu: