Wykaz publikacji wybranego autora

Anna Małek, dr inż.

asystent

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, *Katedra Elektroniki


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa (25%)


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-0950-2416 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 55788725900

PBN: 5e70942d878c28a0473b7a0b

OPI Nauka Polska




1
  • Structural investigation of MF, RF and DC sputtered Mo thin films for backside photovoltaic electrode / Anna K. MAŁEK, Konstanty W. MARSZAŁEK, Artur M. RYDOSZ // W: Electron technology conference 2016 : 11–14 September 2016, Wisła, Poland / eds. Barbara Swatowska, [et al.]. — USA : Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers, cop. 2016. — (Proceedings of SPIE / The International Society for Optical Engineering ; ISSN 0277-786X ; vol. 10175). — ISBN: 9781510608436 ; e-ISBN: 9781510608443. — S. 1017519-1–1017519-7. — Bibliogr. s. 1017519-7, Abstr.. — A. Małek, K. Marszałek - dod. afiliacja: Photovoltaic Center AGH

  • keywords: Mo back contact, electrode for CIGS solar cell, medium frequency sputtering

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1117/12.2263484

2
3
4
  • Thermal dependence of optical parameters of thin polythiophene films blended with PCBM / Janusz Jaglarz, Anna MAŁEK, Jerzy Sanetra // Polymers [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2073-4360. — 2018 vol. 10 iss. 4, art. no. 454, s. 1–13. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 11-13, Abstr.. — tekst: https://www.mdpi.com/2073-4360/10/4/454/pdf

  • keywords: spectroscopic ellipsometry, conjugated thin films, polythiophene blends, thermooptical investigations

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/polym10040454