Wykaz publikacji wybranego autora

Radosław Chmielowski, mgr inż.

doktorant

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska



Statystyka obejmuje publikacje afiliowane AGH od 2008 roku włącznie

typ publikacji
rocznikl. publ.książkifragm.referatyartykułypatentymapyred. czas.inne
ogółem945
200811
2006211
200511
200422
200322
200211
język publikacji
rocznikrazempolskojęzyczneanglojęzycznepozostałe języki
ogółem918
200811
200622
200511
2004211
200322
200211
kraj wydania
rocznikrazempubl. krajowepubl. zagraniczne
ogółem945
200811
2006211
200511
2004211
200322
200211
Lista Filadelfijska
rocznikrazempubl. z LFpubl. pozostałe
ogółem945
200811
2006211
200511
2004211
200322
200211
punktacja MNiSW
rocznikrazempubl. z pkt. MNiSWpubl. pozostałe
ogółem99
200811
200622
200511
200422
200322
200211
publikacje recenzowane
rocznikrazempubl. recenzowanepubl. nierecenzowane
ogółem954
200811
2006211
200511
200422
200322
200211



1
  • Microstructure of ${Sr_{4}Ru_{2}O_{9}}$ thin films and ${Bi_{3.25}La_{0.75}Ti_{3}O_{12}/Sr_{4}Ru_{2}O_{9}}$ bilayers / R. CHMIELOWSKI, V. Madigou, M. BLICHARSKI, Ch. Leroux // W: EMC 2008 : 14th European Microscopy Congress : 1–5 September 2008, Aachen, Germany. Vol. 2, Materials science / eds. Silvia Richter, Alexander Schwedt. — Berlin ; Heidelberg : Springer-Verlag, cop. 2008. — ISBN: 978-3-540-85225-4. — S. 347–348. — Bibliogr. s. 348

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
3
  • Structural analyses of ${Cu}$-doped ${CeO_{2}}$ thin films deposited by means of laser ablation / M. KLIMCZAK, A. KOPIA, R. CHMIELOWSKI, J. KUSIŃSKI, I. SULIGA // Materials Chemistry and Physics ; ISSN 0254-0584. — Tytuł poprz.: Materials Chemistry. — 2003 vol. 81 iss. 2–3, s. 558–561. — Bibliogr. s. 561, Abstr.. — XI Conference on Electron Microscopy of solids : Krynica'2002 : May 19–23, 2002

  • keywords: pulsed laser deposition, thin films, nano materials, cerium dioxide

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/S0254-0584(03)00074-9

4
  • Structural analyses of the thin films $CeO_{2}$ doping Cu / M. KLIMCZAK, A. KOPIA, R. CHMIELOWSKI, J. KUSIŃSKI, I. SULIGA // W: XI International conference on Electron microscopy of solids : Krynica, Poland, 19–23 May 2002 : abstracts / org.: Institute of Metallurgy and Materials Science of Polish Academy of Sciences, Microscopy Section of Committee on Materials Science of Polish Academy of Sciences, Polish Materials Society. — [Poland : PAS], [2002]. — S. 123

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • Structural analysis of $Sr_{n+1}Ru_{n}O_{3n+1}$ thin films deposited by laser ablationAnaliza struktury cienkich warstw $Sr_{n+1}Ru_{n}O_{3n+1}$ otrzymanych techniką ablacji laserowej / R. CHMIELOWSKI, V. Madigou, M. A. Frémy, M. BLICHARSKI, G. Nihoul // Archives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science ; ISSN 1733-3490. — 2006 vol. 51 iss. 1 spec. iss., s. 83–86. — Bibliogr. s. 86. — MicroCEM : workshop on “Progress in Microstructure Characterization by Electron Microscopy” : 30 September – 2 October 2005, Zakopane, Poland / eds.: Ewa Bełtowska, Marek Faryna, Krzysztof Sztwiertnia ; Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science. Kraków, Poland. — Warszawa, Kraków : PAS, 2006

  • keywords: pulsed laser deposition, strontium ruthenate, FeRAM

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • Structural analysis of $Sr_{n+1}Ru_{n}O_{3n+1}$ thin films elaborated by laser ablation technique / R. CHMIELOWSKI, V. Madigou, M. A. Frémy, M. BLICHARSKI, G. Nihoul // W: microCEM : workshop on “Progress in microstructure Characterization by Electron Microscopy” : 30 September – 2 October 2005, Zakopane, Poland : book of abstracts. — Krakow : Polish Academy of Sciences. Institute of Metallurgy and Materials Science, 2005. — S. 41, P 11

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • TEM microstructure investigation of ferroelectric and conductive oxide thin films obtained by pulsed laser deposition technique / R. CHMIELOWSKI, V. Madigou, M. BLICHARSKI, Ch. Leroux // W: IMC16 : 16th International Microscopy Congress : Microscopy for the 21st century : 3–8 September 2006 Sapporo, Japan : proceedings. Vol. 3, Materials science / eds. Hideki Ichinose, Takahisa Sasaki. — [Japan : Publication committee of IMC16], [2006]. — S. 1753

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
  • The influence of copper on microstructure and catalytic properties of ${CeO_{2}}$ thin films deposited by pulsed laser deposition / M. KLIMCZAK-CHMIELOWSKA, R. CHMIELOWSKI, A. KOPIA, J. KUSIŃSKI, Ch. Leroux, S. Villain, S. Saiztek, J. R. Gavarri // High Temperature Material Processes ; ISSN 1093-3611. — 2003 vol. 7 iss. 3, s. 333–342. — Bibliogr. s. 342, Abstr.

  • keywords: pulsed laser deposition, thin films, nano materials, gas sensors, cerium dioxide

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1615/HighTempMatProc.v7.i3.70

9
  • Wybrane metody badań struktury i własności cienkich warstw i powierzchni materiałówSelected research methods of structure and properties of thin films and material surfaces / Jan KUSIŃSKI, Magdalena CHMIELOWSKA, Agnieszka KOPIA, Kazimierz KOWALSKI, Radosław CHMIELOWSKI // Hutnik Wiadomości Hutnicze : czasopismo naukowo-techniczne poświęcone zagadnieniom hutnictwa ; ISSN 1230-3534. — 2004 R. 71 nr 3, s. 120–128. — Bibliogr. s. 128

  • słowa kluczowe: mikrostruktura, katalizator, dyfuzja, XPS, tlenek cyrkonu, SIMS, cienkie warstwy CeO2 domieszkowane Cu, segregacja

    keywords: microstructure, diffusion, segregation, catalyst, XPS, zirconia, SIMS, thin films CeO2 oped Cu

    cyfrowy identyfikator dokumentu: