Wykaz publikacji wybranego autora

Wiesław Powroźnik, mgr

specjalista

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-2235-8209 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 6603031317

PBN: 5e7094cb878c28a0473c3ee3

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Właściwości optyczne i strukturalne cienkich warstw ZnO i AZO otrzymywanych metodą ALD na podłożu krzemowym : [abstrakt][Optical and structural properties of ZnO and AZO thin films obtained on silicon substrate by ALD method : abstract] / Barbara SWATOWSKA, Tomasz STAPIŃSKI, Wiesław POWROŹNIK, Rafał Pietruszka, Bartłomiej S. Witkowski, Marek Godlewski, Gabriela Lewińska // W: XVI KKE [Dokument elektroniczny] : Krajowa Konferencja Elektroniki : Darłowo, 05–09.06.2017 : materiały konferencyjne / Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Koszalin : s. n.], [2017]. — Dysk Flash. — S. 386. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — G. Lewińska – afiliacja: Politechnika Krakowska

  • słowa kluczowe: właściwości optyczne, właściwości strukturalne, tlenek cynku, ALD, metoda osadzania warstw atomowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: