Wykaz publikacji wybranego autora

Wiesław Powroźnik, mgr

specjalista

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-2235-8209 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 6603031317

PBN: 5e7094cb878c28a0473c3ee3

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Analiza wpływu warstw buforowych na szorstkość i własności magnetyczne złącz tunelowych z użyciem mikroskopii AFM oraz MFM — [Buffer layers influence on surface topography and magnetization properties of magnetic tunnel junctions] / M. BANASIK, J. KANAK, A. ŻYWCZAK, S. ZIĘTEK, W. SKOWROŃSKI, W. POWROŹNIK, J. WRONA, T. STOBIECKI // W: VIII Seminarium Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań STM/AFM 2014 oraz III Szkoła skaningowej mikroskopii i spektroskopii bliskich oddziaływań SPM : Zakopane, 3–7 grudnia 2014. — Kraków : Centrum NANOSAM ; Instytut Fizyki Uniwersytetu Jagiellońskiego, [2014]. — Na okładce tytuł: Seminarium STM/AFM : streszczenia. — S. 111. — Bibliogr. s. 111. — Afiliacja autorów: Akademia Górniczo-Hutnicza ; J. Wrona - dod. afiliacja: Singulus Technologies AG, Kahl am Main, Germany

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: