Wykaz publikacji wybranego autora

Wiesław Powroźnik, mgr

specjalista

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-2235-8209 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 6603031317

PBN: 5e7094cb878c28a0473c3ee3

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Antiferromagnetic coupling in CoFeB/Ru/CoFeB prepared by sputtering and ion beam deposition / A. ZALESKI, M. CZAPKIEWICZ, J. KANAK, P. WIŚNIOWSKI, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, S. Cardoso, P. P. Freitas // W: Workshop on Spin momentum transfer : Kraków 3–5 September 2008 Poland : book of abstracts / eds. Piotr Mietniowski, Zbigniew Szklarski. — Kraków : AGH University of Science and Technology. Department of Electronics, 2008. — S. 37

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Application of silicon strip detector for X-ray diffraction on metallic multilayersZastosowanie krzemowego detektora paskowego do badań dyfrakcyjnych metalicznych układów wielowarstwowych / P. MIETNIOWSKI, J. KANAK, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, P. MAJ, P. GRYBOŚ // Archives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science ; ISSN 1733-3490. — 2008 vol. 53 iss. 1 spec. iss., s. 75–81. — Bibliogr. s. 81. — Zastosowano procedurę peer review. — SOTAMA : symposium on Texture and microstructure analysis : September 26–28, 2007, Cracow, Poland / guest eds. Jerzy Jura, Ewa Bełtowska, Jan T. Bonarski ; Institute of Metallurgy and Materials Science of the Polish Academy of Sciences, Cracow. — Warszawa ; Kraków : PAS. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science, 2008

  • keywords: texture, X-ray diffraction, multi-layers, strip detector of X-ray diffractometer

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Crystallization of CoFeB electrodes in magnetic tunnel junctions / J. KANAK, P. WIŚNIOWSKI, A. ZALESKI, W. POWROŹNIK, M. CZAPKIEWICZ, S. Cardoso, P. P. Freitas, T. STOBIECKI // W: Workshop on Spin momentum transfer : Kraków 3–5 September 2008 Poland : book of abstracts / eds. Piotr Mietniowski, Zbigniew Szklarski. — Kraków : AGH University of Science and Technology. Department of Electronics, 2008. — S. 38

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Influence of annealing on crystallization and magnetic properties of spin valve ${MgO}$ based tunnel magnetoresistance junctions / A. ZALESKI, J. KANAK, P. WIŚNIOWSKI, M. CZAPKIEWICZ, T. STOBIECKI, W. POWROŹNIK, M. ŻOŁĄDŹ, S. Cardoso, P. P. Freitas // W: PHYSICS OF MAGNETISM 2008 : the European conference : June 24–27, 2008, Poznań, Poland : abstracts / eds. F. Stobiecki [et al.] ; Polish Academy of Sciences. Institute of Molecular Physics, Adam Mickiewicz University. Faculty of Physics. — Poznań : IMP PAS, 2008. — ISBN10: 83-922407-5-8. — S. 120, P-4-25

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • Zastosowanie niskokątowej analizy promieniowania X (GIXA) do badań układów cienkowarstwowychApplication of grazing incidence X-ray analysis (GIXA) for multilayer systems / Piotr Mietniowski, Wiesław POWROŹNIK, Jarosław KANAK, Tomasz STOBIECKI, Piotr Kuświk // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2008 R. 49 nr 1, s. 48–51. — Bibliogr. s. 51, Streszcz., Summ.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: