A method of thermal testing of microsystems / Piotr BRATEK, Andrzej KOS // Microelectronics Reliability ; ISSN 0026-2714. — 2001 vol. 41 iss. 11, s. 1877–1887. — Bibliogr. s. 1886–1887, Abstr.. — tekst: https://www-1sciencedirect-1com-1000027cs0111.wbg2.bg.agh.edu.pl/science/article/pii/S0026271401000889/pdfft?md5=88285ba51db5eb5a8553c56487b5ed42&pid=1-s2.0-S0026271401000889-main.pdf

An efficient electrothermal model of a thermoelectric converter for a thermal energy harvesting process simulation and electronic circuits powering / Piotr DZIURDZIA, Piotr BRATEK, Michał Markiewicz // Energies [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1996-1073. — 2024 vol. 17 iss. 1 art. no. 204, s. 1–23. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 21–23, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2023-12-29. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1073/17/1/204/pdf?version=1704178343

Breath sensor based on conductive foam : idea, construction, and characterisation / Ireneusz BRZOZOWSKI, Piotr BRATEK, Piotr DZIURDZIA, Wojciech GELMUDA, Andrzej KOS, Jacek OSTROWSKI, Dominik RZEPKA // W: ICSES'16 [Dokument elektroniczny] : 2016 International Conference on Signals and Electronic Systems : September 5–7, 2016, Kraków, Poland : proceedings / ed. by Witold Machowski, Jacek Stępień. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Piscataway : IEEE, cop. 2016. — Dysk Flash. — Dod. ISBN 978-1-5090-2667-8. — e-ISBN: 978-1-5090-2666-1. — S. 219–224. — Bibliogr. s. 224, Abstr.

Electronic aid system for the visually impaired / Wojciech GELMUDA, Andrzej KOS, Krzysztof BOROŃ, Ireneusz BRZOZOWSKI, Adam GOŁDA, Piotr BRATEK, Maciej FRANKIEWICZ, Ryszard Gał, Małgorzata WIŚNIOWSKA, Monika CHOCHÓŁ, Anna BOBELA, [et al.] // Electronics World ; ISSN 1365-4675. — 2014 vol. 120 iss. 1938, s. 34–36

Energy-efficient wireless weight sensor for remote beehive monitoring / Piotr BRATEK, Piotr DZIURDZIA // Sensors [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1424-8220. — 2021 vol. 21 iss. 18 art. no. 6032, s. 1–15. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 14–15, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2021-09-09. — tekst: https://www.mdpi.com/1424-8220/21/18/6032/pdf

Fault diagnosis and fault localisation in integrated circuit by thermal method / Piotr BRATEK, Andrzej KOS // W: The 13\textsuperscript{th} [thirteenth] International conference on Microelectronics : Rabat, Morocco October 29–31, 2001. — [Morocco : s. n.], [2001]. — Tryb dostępu: {http://www.emi.ac.ma/ ICM_2001} [28.11.2002]. — Ekran 230–233. — Bibliogr. ekran 233, Abstr.

Fault localisation in Integrated Circuits by thermal method / Piotr BRATEK, Andrzej KOS // W: MTM 2001 : 5\textsuperscript{th} [fifth] international symposium on Microelectronics Technologies and Microsystems : Piteşti, June 7–9, 2001. — [Piteşti : s. n.], [2001]. — S. [72–77]. — Bibliogr. s. [77]

Graphical touch screen of thermal signs for the blind people – clinic tests / Krzysztof BOROŃ, Piotr BRATEK, Andrzej KOS // Microelectronics International ; ISSN 1356-5362. — 2007 vol. 24 no. 2, s. 23–27. — Bibliogr. s. 27, Abstr.. — tekst: https://goo.gl/UNdyXb

Matrix of thermal characters for the blind with temperature control system : [abstract] / K. BOROŃ, A. KOS, P. BRATEK // W: 51. IWK : Internationales Wissenschaftliches Kolloquium = International Scientific Colloquium : information technology and electrical engineering – devices and systems, materials and technologies for the future : 11–15 September 2006 : proceedings / Hrsg. Peter Scharff ; Technische Universität Ilmenau. — Ilmenau : TU Ilmenau, 2006. — S. 97–98. — Bibliogr. s. 98. — Pełny tekst W: 51. IWK [Dokument elektroniczny] : 51. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium : [information technology and electrical engineering – devices and systems, materials and technologies for the future] : 11–15 September 2006. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe / Hrsg. Peter Scharff ; Technische Universität Ilmenau. Fakulät für Elektrotechnik und Informationstechnik. — Ilmenau : TU Ilmenau, 2006. — 1 dysk optyczny. — S. [1–7]. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Tyt. przejęto z ekranu tytułowego. — Bibliogr. s. [7], Abstr.

Monitoring respiration with acceleration sensors / Piotr BRATEK, Piotr DZIURDZIA, Ireneusz BRZOZOWSKI, Wojciech GELMUDA, Jacek OSTROWSKI, Andrzej KOS // Electronics World ; ISSN 1365-4675. — 2016 vol. 122 iss. 1962, 30–34

New concept of temperature sensors placement strategies for thermal monitoring of ICs / Piotr BRATEK, Andrzej KOS // W: Design and diagnostics of electronic circuits and systems : 3\textsuperscript{rd} DDECS workshop : Smolenice, Slovakia April 5–7, 2000 : proceedings. — [Bratislava : s. n.], [2000]. — S. 96–99. — Bibliogr. s. 99, Abstr.

Optimisation of temperature fields of microsystems with self-organising neural nets / P. BRATEK, A. KOS // Active and Passive Electronic Components ; ISSN 0882-7516. — 2003 vol. 26 no. 3, s. 141–149. — Bibliogr. s. 148–149. — tekst: https://downloads.hindawi.com/journals/apec/2003/510753.pdf

Optimum topography design of electronic circuits with self-organising neural nets / Piotr BRATEK, Andrzej KOS // W: CSIT'2002 [Dokument elektroniczny] : The 4th international workshop on Computer Science and Information Technologies in conjuction with Patras international ICC (Information, Communications & Control) Forum : 18–20 September 2002, Patras, Greece / ed. Peter P. Groumpos ; University of Patras. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Greece : University of Patras], [2002]. — 1 dysk optyczny. — Opis częśc. wg obwoluty. — S. 1–5. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 5, Abstr.

Power losses phenomena in CMOS inverter / A. GOŁDA, P. BRATEK, A. KOS // W: Drive the future : 3\textsuperscript{rd} European Microelectronics and Packaging Symposium EMPS : 16th to 18th June 2004, Prague, Czech Republic : proceedings / ed. Josef Sikula. — Lanskroun, Czech Republic : IMAPS CZ&SK Chapter, 2004. — Dołączony CD-ROM. — Opis częśc. wg okł.. — S. 611–616. — Bibliogr. s. 616, Abstr.

Temperature sensors placement strategy for fault diagnosis in Integrated Circuits / Piotr BRATEK, Andrzej KOS // W: SEMI-THERM : semiconductor thermal measurement and management symposium : San Jose, CA USA March 20–22, 2001 : proceedings 2001. — [Piscataway : IEEE], [2001]. — (Seventeenth Annual IEEE). — Na okł. dodatkowo: 1950–2000 Celebrating 50 [fiftieth] years of technology. — ISBN10: 0-7803-6649-2. — S. 245–251. — Bibliogr. s. 251, Abstr.. — tekst: https://ieeexplore-1ieee-1org-1000047i60104.wbg2.bg.agh.edu.pl/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=915185

Thermal matrix for the blind / K. BOROŃ, P. BRATEK, A. KOS // W: Nano and giga challenges in electronics and photonics : {\it from atoms to materials to devices to system architecture} : symposium and spring school (tutorial lectures) : Phoenix, Arizona, March 12–16, 2007 : [abstracts]. — [Arizona, USA : Arizona State University. Department of Electrical Engineering], [2007]. — S. 52. — Bibliogr. s. 52