Wykaz publikacji wybranego autora

Barbara Swatowska, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-7590-5520 orcid iD

ResearcherID: AAI-9696-2020

Scopus: 23490400900

PBN: 5e70922c878c28a0473911f9

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • [referat, 2008]
  • TytułInfluence of material properties on parameters of silicon solar cells : [abstract]
    AutorzyBarbara SWATOWSKA, Tomasz STAPIŃSKI, Grzegorz Całko
    Źródło32textsuperscript{nd} international IMAPS-IEEE CPMT : Poland conference : Warszawa–Pułtusk, 21–24 September 2008. — Warszawa : Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 2008. — S. 81
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • [referat, 2008]
  • TytułMulticrystalline silicon solar cells with ${a-Si:N:H}$ antireflective coatings
    AutorzyBarbara SWATOWSKA, Tomasz STAPIŃSKI
    Źródło7th Iberian Vacuum Meeting & 5th European topical conference on Hard coatings : Caparica, Portugal, June 22–25, 2008 : book of abstracts. — [Portugal : s. n.], [2008]. — S. 83
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • [referat, 2008]
  • TytułThe main properties of amorphous ARC for silicon solar cells : [abstract]
    AutorzyBarbara SWATOWSKA, Tomasz STAPIŃSKI
    Źródło32textsuperscript{nd} international IMAPS-IEEE CPMT : Poland conference : Warszawa–Pułtusk, 21–24 September 2008. — Warszawa : Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 2008. — S. 82
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: