Wykaz publikacji wybranego autora

Oleksander Kryshtal, dr hab., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-6528-8821 orcid iD

ResearcherID: G-2094-2016

Scopus: 66024065553

PBN: 602b70c09543c7410626dd44

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [komunikat, 2017]
  • TytułBadanie struktury granic ziaren w zgorzelinie $Cr_2O_3$ powstałej na chromie implantowanym jonowo itrem
    AutorzyAleksander GIL, Oleksander KRYSHTAL, Tomasz BRYLEWSKI
    ŹródłoOchrona przed Korozją. — 2017 vol. 60 nr 11, s. 387

  • słowa kluczowe: wysokotemperaturowe utlenianie, zgorzelina Cr2O3, implantacja jonowa

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Brylewski, Aleksander Gil

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • [referat, 2017]
  • TytułDe-wetting of nanosized binary films: a case study on Au-Ge
    AutorzyI. S. Zelenina, S. I. Bogatyrenko, A. A. Minenkov, A. P. KRYSHTAL
    ŹródłoNAP-2017 : proceedings of the 2017 IEEE 7textsuperscript{th} international conference on Nanomaterials: Applications & Properties : Zatoka, Ukraine, September 10–15, 2017, Pt. 2 / Ministry of Education and Science of Ukraine, Sumy State University. — Sumy : Sumy State University, 2017. — S. 02NTF08-1–02NTF08-4

  • keywords: thin films, de-wetting, Au-Ge, melting temperature

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/NAP.2017.8190369

3
4
  • [artykuł w czasopiśmie, 2017]
  • TytułInterfacial kinetics in nanosized Au/Ge films: an emph {in situ} TEM study
    AutorzyAleksandr P. KRYSHTAL, Alexey A. Minenkov, Paulo J. Ferreira
    ŹródłoApplied Surface Science. — 2017 vol. 409, s. 343–349. — tekst: https://goo.gl/O0Pb12

  • keywords: TEM, metal induced crystallization, liquid film migration, fcc germanium, solid-liquid interface, in situ transmission electron microscopy

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.apsusc.2017.03.037

5
  • [referat, 2017]
  • TytułSize evolution of solid state area on the Ag-Cu phase diagram
    AutorzyV. V. Gritsenko, S. I. Bogatyrenko, A. A. Minenkov, A. P. KRYSHTAL
    ŹródłoNAP-2017 : proceedings of the 2017 IEEE 7textsuperscript{th} international conference on Nanomaterials: Applications & Properties : Zatoka, Ukraine, September 10–15, 2017, Pt. 2 / Ministry of Education and Science of Ukraine, Sumy State University. — Sumy : Sumy State University, 2017. — S. 02NTF12-1–02NTF12-5

  • keywords: phase diagram, films, Ag-Cu, mutual solubility

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/NAP.2017.8190372