Wykaz publikacji wybranego autora

Oleksander Kryshtal, dr hab., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-6528-8821 orcid iD

ResearcherID: G-2094-2016

Scopus: 66024065553

PBN: 602b70c09543c7410626dd44

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [komunikat, 2017]
  • TytułBadanie struktury granic ziaren w zgorzelinie $Cr_2O_3$ powstałej na chromie implantowanym jonowo itrem
    AutorzyAleksander GIL, Oleksander KRYSHTAL, Tomasz BRYLEWSKI
    ŹródłoOchrona przed Korozją. — 2017 vol. 60 nr 11, s. 387
2
  • [komunikat, 2020]
  • TytułBimetallic Au-Ni nanoparticles for catalysis applications : news from AGH-UST
    AutorzyOleksandr KRYSHTAL
    ŹródłoKMM-VIN Newsletter [Dokument elektroniczny] / European Virtual Institute on Knowledge-Based Multifunctional Materials AISBL. — 2020 iss. 22 Summer 2020, s. 7. — tekst: https://www.kmm-vin.eu/media/newsletter/newsletter_22_20200728-155335.pdf
3
  • [referat, 2019]
  • TytułCharacterization of gold rich nanostructures on AIII-BV semiconductor surfaces by electron microscopy and machine learning techniques
    AutorzyB. R. Jany, A. Janas, W. Piskorz, K. Szajna, A. KRYSHTAL, G. CEMPURA, P. Indyka, A. KRUK, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, F. Krok
    ŹródłoMC 2019 [Dokument elektroniczny] : Microscopy Conference : 1–5 September 2019, Berlin, Germany : abstracts. — [Berlin : s. n.], [2019]. — S. 303–304
4
  • [referat, 2016]
  • TytułCharacterization of the glass-coated CoSb3 thermoelectric material by electron microscopy
    AutorzyKinga ZAWADZKA, Oleksandr KRYSHTAL, Marek NOCUŃ, Elżbieta GODLEWSKA, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoEMC 2016 : European Microscopy Congress 2016. Vol. 2[.2], Materials science / ed. by Odile Stéphan, Martin Hytch, Thierry Epicier. — Weinheim : Wiley-VCH Verlag GmbH, 2016. — S. 926–927
5
  • [referat, 2019]
  • TytułChemical and structural imaging of gold-rich nanostructures on AIIIBV semiconductors by electron microscopy and machine learning
    AutorzyBenedykt R. Jany, Arkadiusz Janas, Witold Piskorz, Konrad Szajna, Aleksandr KRYSHTAL, Grzegorz CEMPURA, Paulina Indyka, Adam Kruk, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ, Franciszek Krok
    ŹródłoIX krajowa konferencja Nanotechnologii NANO 2019 : 1–3 lipca 2019, Wrocław, Polska : książka streszczeń. — Wrocław : Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2019. — S. 40
6
  • [referat, 2019]
  • TytułContact melting in Ag/Ge layered nanofilms: critical thickness and onset temperature
    AutorzyAlexey A. Minenkov, Sergey I. Bogatyrenko, Aleksandr P. KRYSHTAL
    ŹródłoNAP-2019 [Dokument elektroniczny] : proceedings of the 2019 IEEE 9textsuperscript{th} international conference on Nanomaterials: Applications & Properties : Odesa, Ukraine, September 15–20, 2019, Pt. 1 / Ministry of Education and Science of Ukraine, [etc.]. — Sumy : Sumy State University ; USA : IEEE, 2019. — S. 01TFC25-1–01TFC25-4
7
  • [fragment monografii pokonferencyjnej, 2020]
  • TytułContact melting in Ag/Ge layered nanofilms: critical thickness and onset temperature
    AutorzyAlexey Minenkov, Aleksandr KRYSHTAL, Sergey Bogatyrenko
    ŹródłoMicrostructure and properties of micro- and nanoscale materials, films and coatings (NAP 2019) : selected articles from the international conference on Nanomaterials: applications and properties / eds. Alexander D. Pogrebnjak, Oleksandr Bondar. — Singapore : Springer Nature Singapore Pte Ltd., cop. 2020. — S. 287–295
8
  • [referat, 2017]
  • TytułDe-wetting of nanosized binary films: a case study on Au-Ge
    AutorzyI. S. Zelenina, S. I. Bogatyrenko, A. A. Minenkov, A. P. KRYSHTAL
    ŹródłoNAP-2017 : proceedings of the 2017 IEEE 7textsuperscript{th} international conference on Nanomaterials: Applications & Properties : Zatoka, Ukraine, September 10–15, 2017, Pt. 2 / Ministry of Education and Science of Ukraine, Sumy State University. — Sumy : Sumy State University, 2017. — S. 02NTF08-1–02NTF08-4
9
  • [referat, 2020]
  • TytułEffect of electron beam irradiation in TEM on the local temperature of Au-Ge nanoparticle
    AutorzyM. MIELCZAREK, J. PAWLAK, A. KRYSHTAL
    ŹródłoEM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30textsuperscript{th} - December 2textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — S. 110
10
  • [referat, 2019]
  • TytułEffect of gadolinium segregation to grain boundaries in $Cr_{2}O_{3}$ scale on the physicochemical properties of Crofer 22 APU ferritic steel with a spinel coating
    AutorzyTomasz BRYLEWSKI, Michał MARCZYŃSKI, Sebastian Molin, Jan WYRWA, Oleksander KRYSHTAL, Aleksander GIL
    Źródło12textsuperscript{th} conference of the Polish Ceramic Society and 3textsuperscript{rd} Polish–Slovak–Chinese seminar on Ceramics : Zakopane, September 12textsuperscript{th}–15textsuperscript{th} 2019 : book of abstracts / ed. Zbigniew Pędzich, Magdalena Zarzecka-Napierała. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2019. — S. 46
11
  • [książka, 2017]
  • TytułFascynujący mikroświat : zobacz obrazy mikrostruktur
    AutorzyGrzegorz MICHTA, Grzegorz CEMPURA, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ, Oskar DZIUBA, Adam GRUSZCZYŃSKI, Joanna KARBOWNICZEK, Joanna KNAPCZYK, Adam KRUK, Oleksandr KRYSHTAL, Sebastian LECH, Sara METWALLY, Kinga MAJEWSKA-ZAWADZKA, Władysław OSUCH, Bogdan RUTKOWSKI, Urszula STACHEWICZ, Piotr SZEWCZYK, Daniel URA, Maciej ZIĘTARA
    DetailsKraków : Dział Informacji i Promocji Akademii Górniczo-Hutniczej im. Stanisława Staszica, 2017. — 64 s.
12
  • [referat, 2016]
  • TytułGlass coating/$CoSb_{3}$ interface: characterization by transmission electron microscopy
    AutorzyK. ZAWADZKA, E. GODLEWSKA, O. KRYSHTAL, M. NOCUŃ, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, M. Chmielewski, R. Zybała
    ŹródłoECT 2016 [Dokument elektroniczny] : 14textsuperscript{th} European Conference on Thermoelectrics : Lisbon, Portugal, 20–23 September 2016 : book of abstracts / Instituto Superior Técnico. Universidade de Lisboa. — [Lisbon : s. n.], [2016]. — S. 173
13
  • [referat, 2018]
  • TytułGrowth mechanism of $Cr_{2}O_{3}$ scale formed on chromium implanted with yttrium
    AutorzyAleksander GIL, Oleksander KRYSTHAL, Tomasz BRYLEWSKI, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    Źródło18textsuperscript {th} international Polish-French conference on Reactivity of solids [Dokument elektroniczny] : 2–4 July 2018, Krakow, Poland : programme and abstracts. — [Kraków : AGH University of Science and Technology], [2018]. — S. 24
14
  • [referat, 2019]
  • TytułIn situ aberration-corrected STEM studies of metal-induced crystallization of amorphous semiconductor films
    AutorzyKRYSHTAL A. P., Bogatyrenko S. I.
    ŹródłoNANO-2019 : international research and practice conference ”Nanotechnology and Nanomaterials” : 27–30 August 2019, Lviv, Ukraine : book of abstracts. — Kiev : LLC, cop. 2019. — S. 373
15
  • [referat, 2020]
  • TytułIn situ TEM study of kinetics of Ag-induced crystallization of amorphous Ge films
    AutorzyAleksandr KRYSHTAL, Sergiy Bogatyrenko, Paulo Ferreira
    ŹródłoICTF JVC 2020 [Dokument elektroniczny] : 18th International Conference on Thin Films & 18th Joint Vacuum Conference : 22–26 November 2020, Budapest, Hungary : full online conference : book of abstracts. — [Budapest : Hungarian Vacuum Society ; Union for Vacuum Science, Technique and Applications], [2020]. — S. 79
16
  • [referat, 2019]
  • TytułKinetics of Ag-induced crystallization of amorphous Ge films probed by EELS plasmon mapping in TEM
    AutorzyAleksandr KRYSHTAL, Sergey Bogatyrenko
    ŹródłoNAP-2019 [Dokument elektroniczny] : proceedings of the 2019 IEEE 9textsuperscript{th} international conference on Nanomaterials: Applications & Properties : Odesa, Ukraine, September 15–20, 2019, Pt. 1 / Ministry of Education and Science of Ukraine, [etc.]. — Sumy : Sumy State University ; USA : IEEE, 2019. — S. 01SSI05-1
17
  • [referat, 2022]
  • TytułKinetics of melting-crystallization on single Sn nanoparticles: a HR STEM–EELS study
    AutorzyA. KRYSHTAL, S. Bogatyrenko
    Źródło13textsuperscript{th} Polish-Japanese joint seminar on Micro and nano analysis : [25–28 September 2022, Ustroń] : abstract book. — [Katowice : University of Silesia], [2022]. — S. 29–30
18
  • [referat, 2022]
  • TytułKrystalograficzne pochodzenie zmian reżimu przewodnictwa elektrycznego dla nano-złącza metal-półprzewodnik (M-S)
    AutorzyArkadiusz Janas, Witold Piskorz, Aleksandr KRYSHTAL, Grzegosz CEMPURA, Wojciech Bełza, Adam KRUK, Benedykt R. Jany, Franciszek Krok
    ŹródłoNANO 2022 [Dokument elektroniczny] : X krajowa konferencja Nanotechnologii : Kraków, 3-8 lipca 2022, Polska : książka streszczeń / red. Benedykt R. Jany, Piotr Piątkowski, Franciszek Krok. — Kraków : Wydział Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanej Uniwersytet Jagielloński, cop. 2022. — S. 184
19
  • [referat, 2017]
  • TytułLiquid-like migration of solid Ni islands on amorphous carbon substrate
    AutorzyBogatyrenko S., KRYSHTAL A.
    ŹródłoXVI international conference on Physics and technology of thin films and nanosystems [Dokument elektroniczny] : (dedicated to memory professor Dmytro Freik) : Ivano-Frankivsk, May 15–20, 2017 : materials / Ministry of Education and Science of Ukraine, [et al.]. — [Ivano-Frankivsk : Vasyl Stefanyk Precarpathian National University], [2017]. — S. 109
20
  • [referat, 2018]
  • TytułMelting and crystallization of nanosized Bi films confined between Ge layers
    AutorzyA. P. KRYSHTAL, A. A. Minenkov, S. I. Bogatyrenko
    ŹródłoDSL2018 [Dokument elektroniczny] : 14textsuperscript{th} international conference on Diffusion in Solids and Liquids : 25–29 June, Amsterdam, Netherlands : abstract book / ed. by DSL Conference. — [Amsterdam : s. n.], [2018]. — S. 157
21
  • [referat, 2017]
  • TytułMelting process and the size dependence of the eutectic temperature of Ag-Ge films
    AutorzyO. KRYSHTAL, A. Minenkov, S. Bogatyrenko, A. GRUSZCZYŃSKI
    ŹródłoXVI International conference on Electron microscopy : 10 – 13 September 2017, Jachranka, Poland : conference program and book of abstracts / Warsaw University of Technology, Polish Society for Microscopy. — [Polska : WUT], [2017]. — S. 106
22
  • [referat, 2019]
  • TytułMetal-induced crystallization of amorphous semiconductor films: nucleation phenomena in $Ag-Ge$ couples
    AutorzyA. KRYSHTAL, S. Bogatyrenko, P. Ferreira
    ŹródłoMC 2019 [Dokument elektroniczny] : Microscopy Conference : 1–5 September 2019, Berlin, Germany : abstracts. — [Berlin : s. n.], [2019]. — S. 83–84
23
  • [komunikat, 2019]
  • TytułMetastable phases in metal-semiconductor nanosized alloys : news from AGH-UST
    AutorzyOleksandr KRYSHTAL
    ŹródłoKMM-VIN Newsletter [Dokument elektroniczny] / European Virtual Institute on Knowledge-Based Multifunctional Materials AISBL. — 2019 iss. 21 December 2019, s. 12–13. — tekst: https://www.kmm-vin.eu/media/newsletter/Newsletter_21.pdf
24
  • [referat, 2018]
  • TytułMicroscopic investigations of a Cr2O3 scale formed on a substrate with implanted yttrium ions : [abstract]
    AutorzyAleksander GIL, Oleksandr KRYSHTAL, Tomasz BRYLEWSKI, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoEUROCORR 2018 [Dokument elektroniczny] : the annual congress of the European Federation of Corrosion : applied science with constant awareness : 9–13 September, Cracow/Poland. — [Kraków : s. n.], [2018]. — S. [1]
25
  • [referat, 2017]
  • TytułMicrostructure and phase composition of the Ag-Al film wear track: through-thickness characterization by advanced electron microscopy
    AutorzyO. KRYSHTAL, A. KRUK, F. Mao, U. Jansson, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoXVI International conference on Electron microscopy : 10 – 13 September 2017, Jachranka, Poland : conference program and book of abstracts / Warsaw University of Technology, Polish Society for Microscopy. — [Polska : WUT], [2017]. — S. 105