Wykaz publikacji wybranego autora

Tomasz Kozik, mgr inż.

doktorant

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej


Identyfikatory Autora

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak




1
  • [referat w czasopiśmie, 2017]
  • TytułChallenge and adventure: twenty years of searching for the model structure of the polyaniline/camphorsulfonic acid conducting polymer system leading to an artificial intelligence approach
    AutorzyTomasz KOZIK, Maciej ŚNIECHOWSKI, Wojciech ŁUŻNY
    ŹródłoPolimery. — 2017 t. 62 nr 11–12, s. 800–805. — tekst: https://ichp.vot.pl/index.php/p/article/view/344/348
  • słowa kluczowe: modelowanie, symulacje, dyfrakcja rentgenowska, polianilina

    keywords: simulations, modelling, X-ray diffraction, polyaniline

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.14314/polimery.2017.800

2
  • [referat w czasopiśmie, 2017]
  • TytułEffect of solvents on structural anisotropy of polyaniline thin films
    AutorzyMaciej ŚNIECHOWSKI, Tomasz KOZIK, Wojciech ŁUŻNY
    ŹródłoPolimery. — 2017 T. 62 nr 11–12, s. 855-860
  • słowa kluczowe: symulacje, polianilina, dyfrakcja powierzchniowa, anizotropia cienkich warstw, rozpuszczalnik

    keywords: simulations, polyaniline, surface diffraction, film anisotropy, solvent

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.14314/polimery.2017.855

3
4
  • [fragment monografii pokonferencyjnej, 2017]
  • TytułStudy of emph{R}-factors used in structure determination by use of genetic algorithms from powder diffraction data consisting of a small number of very broad peaks
    AutorzyT. KOZIK, W. ŁUŻNY
    ŹródłoInformation Technology and Computational Physics : [CITCEP 2015 : Congress on Information Technology, Computational and Experimental Physics : 18–20 December 2015, Kraków, Poland] / eds. Piotr Kulczycki, [et al.]. — Cham : Springer International Publishing, cop. 2017. — S. 199–215
  • keywords: computer modelling, genetic algorithms, fit factors, Rietveld factors, crystaline structure determination

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1007/978-3-319-44260-0_12