Wykaz publikacji wybranego autora

Sebastian Lech, dr inż.

adiunkt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków


  • 2020

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-6510-1185 orcid iD

ResearcherID: W-2155-2019

Scopus: 57202216232

PBN: 5e709390878c28a0473acd5b

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
2
3
  • [komunikat, 2020]
  • TytułDiscontinuous precipitation during aging of Ni-Fe-Cr-Al alloy : news from AGH-UST
    AutorzySebastian LECH
    ŹródłoKMM-VIN Newsletter [Dokument elektroniczny] / European Virtual Institute on Knowledge-Based Multifunctional Materials AISBL. — 2020 iss. 23 Winter 2020, s. 8–9. — tekst: https://www.kmm-vin.eu/media/newsletter/newsletter_23.pdf
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
5
6
7
8
  • [komunikat, 2020]
  • TytułThree-dimensional characterization of an oxide scale on ATI 718Plus® superalloy : news from AGH-UST
    AutorzySebastian LECH
    ŹródłoKMM-VIN Newsletter [Dokument elektroniczny] / European Virtual Institute on Knowledge-Based Multifunctional Materials AISBL. — 2020 iss. 22 Summer 2020, s. 11–12. — tekst: https://www.kmm-vin.eu/media/newsletter/newsletter_22_20200728-155335.pdf
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

9
  • [referat, 2020]
  • TytułThree-dimensional study of the oxide scale formed on a polycrystalline nickel-based superalloy ATI 718Plus®
    AutorzySebastian LECH, Adam KRUK, Aleksander GIL, Grzegorz CEMPURA, Agnieszka Wusatowska-Sarnek, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoEM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30textsuperscript{th} - December 2textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — S. 104
  • keywords: high temperature oxidation, superalloy, high resolution TEM, high resolution STEM, FIB SEM tomography

    cyfrowy identyfikator dokumentu: