doktorant
Wydział Inżynierii Lądowej i Gospodarki Zasobami WILiGZ-kezp, Katedra Ekonomiki i Zarządzania w Przemyśle
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: brak
słowa kluczowe: statystyka, MSA, dokładność pomiaru, metrologia, BIAS, analiza systemu pomiarowego, SPC, statystyczna kontrola procesu
keywords: metrology, statistics, MSA, SPC, BIAS
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Paweł Bogacz, Kamil Szemik
cyfrowy identyfikator dokumentu: