doktorant
Faculty of Computer Science, Electronics and Telecommunications WIEiT-ke
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: brak
Fabrication of nanocrystallites in the $SiO_{x}$ matrix applicable in microelectronics / Tomasz KOŁODZIEJ // W: Electron Technology Conference 2013 : Ryn, Poland, 16–20 April, 2013 / eds. Paweł Szczepański, Ryszard Kisiel, Ryszard S. Romaniuk. — [Bellingham] : SPIE, cop. 2013. — (Proceedings of SPIE / The International Society for Optical Engineering ; ISSN 0277-786X ; vol. 8902). — ISBN: 9780819495211. — S. 89020V-1–89020V-8. — Bibliogr. s. 89020V-7–89020V-8, Abstr.
Low temperature manufacturing of Si nanocrystallites in the $SiO_{x}$ matrix applicable in solar cells / Andrzej KOŁODZIEJ, Tomasz KOŁODZIEJ, Michał KOŁODZIEJ // W: PVSC 39 [Dokument elektroniczny] : 39th IEEE Photovoltaic Specialists Conference : Tampa, Florida, June 16–21, 2013 : program / IEEE, Electron Devices Society. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Danvers]: IEEE, cop. 2013. — Opis za IEEE Xplore. — e-ISBN: 978-1-4799-3299-3. — S. 0580–0585. — Tryb dostępu: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6744218 [2014-02-26]. — Bibliogr. s. 0584–0585, Abstr.
Methods of nano-crystallization of thin silicon films / Michał KOŁODZIEJ, Tomasz KOŁODZIEJ, Andrzej KOŁODZIEJ // W: PVSC 42 [Dokument elektroniczny] : 42nd IEEE Photovoltaic Specialist Conference : 14–19 June 2015, New Orleans, USA / IEEE. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], cop. 2015. — e-ISBN: 978-1-4799-7944-8. — S. [1–4]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://ieeexplore.ieee.org.ieee-xplore.wbg2.bg.agh.edu.pl/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=7356309 [2016-01-08]. — Bibliogr. s. [4], Abstr.
The plasmonics front electrodes applied to thin film solar cells / Andrzej KOŁODZIEJ, Witold BARANOWSKI, Michał KOŁODZIEJ, Tomasz KOŁODZIEJ // W: PVSC 38 [Dokument elektroniczny] : 38th IEEE Photovoltaic Specialists Conference : Austin, Texas, USA, June 3–8, 2012, Vol. 2 / IEEE. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [USA]: IEEE, cop. 2012. — Opis za IEEE Xplore. — S. [1–6]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6750498 [2014-03-17]. — Bibliogr. s. [6], Abstr.. — W bazie Web of Science data wydania 2013