Wykaz publikacji wybranego autora

Maciej Kachel, mgr inż.

asystent

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [artykuł w czasopiśmie, 2011]
  • TytułLow noise 64-channel ASIC for AC and DC coupled strip detectors
    AutorzyPaweł GRYBOŚ, Maciej KACHEL, Piotr KMON, Robert SZCZYGIEŁ, Takeyoshi Taguchi
    ŹródłoIEEE Transactions on Nuclear Science. — 2011 vol. 58 no. 1, s. 187–193. — tekst: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=5692132
2
  • [referat, 2008]
  • TytułLow noise multichannel ASIC for readout of SSD used in diffraction for powder and multilayer samples
    AutorzyPiotr MAJ, Paweł GRYBOŚ, Robert SZCZYGIEŁ, Maciej KACHEL, Piotr KMON, Tomasz STOBIECKI
    ŹródłoIUCr 2008 : XXI congress of the international union of crystallography : congress and general assembly : book of abstracts : Osaka 23–31 August 2008. — [Japan : s. n.], [2008]. — S. C184, P 01.07.43
3
  • [referat, 2010]
  • TytułMEA based multichannel system employing ASIC for in vivo and in vitro experiments
    AutorzyPaweł GRYBOŚ, Piotr KMON, Robert SZCZYGIEŁ, Mirosław ŻOŁĄDŹ, Maciej KACHEL
    ŹródłoMEA Meeting 2010 : 7textsuperscript{th} international meeting on Substrate-integrated microelectrode arrays : June 29 – July 2, 2010, Reutlingen, Germany : proceedings / ed. Alfred Stett. — Stuttgart : BIOPRO Baden-Württemberg GmbH, 2010. — S. 334–335
4
  • [referat, 2010]
  • TytułMeasurements and performance of a low noise 64-channel ASIC with CdTe strip detectors
    AutorzyMaciej KACHEL, Paweł GRYBOŚ, Robert SZCZYGIEŁ, Takeyoshi Taguchi
    Źródło2010 IEEE nuclear science symposium ; Medical imaging conference ; 17th room temperature semiconductor detector workshop [Dokument elektroniczny] : October 30, 2010 – November 6, 2010, Knoxville, Tennessee / IEEE, Nuclear Plasma Sciences Society, Massachusetts Institute of Technology. — [USA] : IEEE, cop. 2010. — S. 1560–1564
5
  • [referat w czasopiśmie, 2011]
  • TytułMeasurements of low noise 64 channel counting ASIC for Si and CdTe strip detectors
    AutorzyM. KACHEL, P. GRYBOŚ, R. SZCZYGIEŁ, T. Takeyoshi
    ŹródłoJournal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2011 vol. 6 no. 1 art. no. C01043, s. [1–2], 1–6
6
7
  • [referat, 2010]
  • TytułVIPIC IC – design and test aspects of the 3D pixel chip
    AutorzyG. W. Deptuch, M. Trimpl, R. Yarema, D. P. Siddons, G. Carini, P. GRYBOŚ, R. SZCZYGIEŁ, M. KACHEL, P. KMON, P. MAJ
    Źródło2010 IEEE nuclear science symposium ; Medical imaging conference ; 17th room temperature semiconductor detector workshop [Dokument elektroniczny] : October 30, 2010 – November 6, 2010, Knoxville, Tennessee / IEEE, Nuclear Plasma Sciences Society, Massachusetts Institute of Technology. — [USA] : IEEE, cop. 2010. — s. 1540–1543