Wykaz publikacji wybranego autora

Maciej Kachel, mgr inż.

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki

Identyfikatory Autora	Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych
ORCID: brak ResearcherID: brak Scopus: brak	System Informacyjny AGH (SkOs)

Identyfikatory Autora

Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

wydruk:

sortowanie:

1

Low noise 64-channel ASIC for AC and DC coupled strip detectors
Low noise 64-channel ASIC for AC and DC coupled strip detectors / Paweł GRYBOŚ, Maciej KACHEL, Piotr KMON, Robert SZCZYGIEŁ, Takeyoshi Taguchi // IEEE Transactions on Nuclear Science ; ISSN 0018-9499. — 2011 vol. 58 no. 1, s. 187–193. — Bibliogr. s. 192–193, Abstr.. — tekst: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=5692132

2

Low noise multichannel ASIC for readout of SSD used in diffraction for powder and multilayer samples
Low noise multichannel ASIC for readout of SSD used in diffraction for powder and multilayer samples / Piotr MAJ, Paweł GRYBOŚ, Robert SZCZYGIEŁ, Maciej KACHEL, Piotr KMON, Tomasz STOBIECKI // W: IUCr 2008 : XXI congress of the international union of crystallography : congress and general assembly : book of abstracts : Osaka 23–31 August 2008. — [Japan : s. n.], [2008] + CD-ROM. — S. C184, P 01.07.43

3

MEA based multichannel system employing ASIC for in vivo and in vitro experiments
MEA based multichannel system employing ASIC for in vivo and in vitro experiments / Paweł GRYBOŚ, Piotr KMON, Robert SZCZYGIEŁ, Mirosław ŻOŁĄDŹ, Maciej KACHEL // W: MEA Meeting 2010 : 7\textsuperscript{th} international meeting on Substrate-integrated microelectrode arrays : June 29 – July 2, 2010, Reutlingen, Germany : proceedings / ed. Alfred Stett. — Stuttgart : BIOPRO Baden-Württemberg GmbH, 2010. — ISBN: 3-938345-08-5. — S. 334–335

4

Measurements and performance of a low noise 64-channel ASIC with CdTe strip detectors
Measurements and performance of a low noise 64-channel ASIC with CdTe strip detectors / Maciej KACHEL, Paweł GRYBOŚ, Robert SZCZYGIEŁ, Takeyoshi Taguchi // W: 2010 IEEE nuclear science symposium ; Medical imaging conference ; 17th room temperature semiconductor detector workshop [Dokument elektroniczny] : October 30, 2010 – November 6, 2010, Knoxville, Tennessee / IEEE, Nuclear Plasma Sciences Society, Massachusetts Institute of Technology. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [USA] : IEEE, cop. 2010. — 1 dysk optyczny. — ISSN 1082-3654. — e-ISBN: 978-1-4244-9104-9. — S. 1560–1564. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 1564, Abstr.

5

Measurements of low noise 64 channel counting ASIC for Si and CdTe strip detectors
Measurements of low noise 64 channel counting ASIC for Si and CdTe strip detectors / M. KACHEL, P. GRYBOŚ, R. SZCZYGIEŁ, T. Takeyoshi // Journal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1748-0221. — 2011 vol. 6 no. 1 art. no. C01043, s. [1–2], 1–6. — Tryb dostępu: http://iopscience.iop.org/1748-0221/6/01/C01043/pdf/1748-0221_6_01_C01043.pdf [2011-07-15]. — Bibliogr. s. 6, Abstr.. — 12th international workshop on Radiation imaging detectors : July 11th–15th 2010, Robinson College, Cambridge U. K.

6

The compressed baryonic matter experiment at FAIR: progress with feasibility studies and detector developments
The compressed baryonic matter experiment at FAIR: progress with feasibility studies and detector developments / Johann M. Heuser, N. Abel, [et al.], J. GAJDA, [et al.], P. GRYBOŚ, [et al.], M. KACHEL, [et al.], K. KASIŃSKI, [et al.], P. MAJ, [et al.], R. SZCZYGIEŁ, [et al.] // Nuclear Physics. A ; ISSN 0375-9474. — 2009 vol. 830 iss. 1–4, s. 563c–566c. — Bibliogr. s. 566c, Abstr.. — Członkowie CBM Collaboration wymienieni na stronach: 942c–944c ; autorom AGH omyłkowo przypisana afiliacja Jagiellonian University. — Quark Matter 2009 : 21st International Conference on Ultrarelativistic Nucleus-Nucleus Collisions : Knoxville, USA : MAR 30-APR 04, 2009. — tekst: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S037594740900640X/pdf?md5=1af43f5fa0f2ccd848fb86f52ebe218d&pid=1-s2.0-S037594740900640X-main.pdf

7

VIPIC IC – design and test aspects of the 3D pixel chip
VIPIC IC – design and test aspects of the 3D pixel chip / G. W. Deptuch, M. Trimpl, R. Yarema, D. P. Siddons, G. Carini, P. GRYBOŚ, R. SZCZYGIEŁ, M. KACHEL, P. KMON, P. MAJ // W: 2010 IEEE nuclear science symposium ; Medical imaging conference ; 17th room temperature semiconductor detector workshop [Dokument elektroniczny] : October 30, 2010 – November 6, 2010, Knoxville, Tennessee / IEEE, Nuclear Plasma Sciences Society, Massachusetts Institute of Technology. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [USA] : IEEE, cop. 2010. — 1 dysk optyczny. — ISSN 1082-3654. — e-ISBN: 978-1-4244-9104-9. — s. 1540–1543. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 1543, Abstr.. — G. Deptuch – afiliacja: Fermi National Accelerator Laboratory, USA