Wykaz publikacji wybranego autora

Witold Baranowski, mgr

asystent

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, *Katedra Elektroniki


Identyfikatory Autora

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak




1
2
  • Modelowanie tylnego lustra Al/Ag/ZnO/Si w cienkowarstwowym krzemowym ogniwie słonecznymModeling of back mirror Al/Ag/ZnO/Si in thin silicon solar cell / Andrzej KOŁODZIEJ, Halina CZTERNASTEK, Witold BARANOWSKI, Mariusz SOKOŁOWSKI // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2010 R. 51 nr 5, s. 95–98. — Bibliogr. s. 98, Streszcz., Summ.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • The plasmonics front electrodes applied to thin film solar cells / Andrzej KOŁODZIEJ, Witold BARANOWSKI, Michał KOŁODZIEJ, Tomasz KOŁODZIEJ // W: PVSC 38 [Dokument elektroniczny] : 38th IEEE Photovoltaic Specialists Conference : Austin, Texas, USA, June 3–8, 2012, Vol. 2 / IEEE. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [USA]: IEEE, cop. 2012. — Opis za IEEE Xplore. — S. [1–6]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6750498 [2014-03-17]. — Bibliogr. s. [6], Abstr.. — W bazie Web of Science data wydania 2013

  • keywords: nano structures, plasmon, thin silicon photovoltaic cells, amorphous materials

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/PVSC-Vol2.2012.6750498

4
  • X-ray, AFM, UV-VIS-IR analysis of a-Si:H/$\mu$c-Si:H supperlattice structure / Andrzej KOŁODZIEJ, Witold BARANOWSKI, Edward KUSIOR, Jarosław KANAK // Optica Applicata ; ISSN 0078-5466. — 2011 vol. 41 no. 2, s. 449–454. — Bibliogr. s. 453–454. — 10th Electron Technology ELTE 2010 and 34th International Microelectronics and Packaging IMAPS/CPMT Poland joint conference / guest eds. Andrzej Dziedzic, Jacek Radojewski, Jarosław Serafińczuk. — Wrocław : Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2011. — tekst: http://www.if.pwr.wroc.pl/ optappl/pdf/2011/no2/optappl_4102p449.pdf

  • keywords: atomic force microscopy, X-ray, UV-VIS-IR analysis, nc-Si:H multilayer structure

    cyfrowy identyfikator dokumentu: