Wykaz publikacji wybranego autora

Witold Baranowski, mgr

asystent

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, *Katedra Elektroniki


Identyfikatory Autora

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak




1
  • Modelowanie tylnego lustra Al/Ag/ZnO/Si w cienkowarstwowym krzemowym ogniwie słonecznymModeling of back mirror Al/Ag/ZnO/Si in thin silicon solar cell / Andrzej KOŁODZIEJ, Halina CZTERNASTEK, Witold BARANOWSKI, Mariusz SOKOŁOWSKI // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2010 R. 51 nr 5, s. 95–98. — Bibliogr. s. 98, Streszcz., Summ.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Modelowanie tylnego lustra Al/Ag/ZnO/Si w cienkowarstwowym krzemowym ogniwie słonecznym[Al/Ag/ZnO/Si back electrode simulation in silicon thin film solar cells] / A. KOŁODZIEJ, H. CZTERNASTEK, W. BARANOWSKI, M. SOKOŁOWSKI // W: I Krajowa konferencja fotowoltaiki [Dokument elektroniczny] : Krynica Zdrój, 9–11 października 2009. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Kraków : Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej Polskiej Akademii Nauk], [2009]. — 1 dysk optyczny. — Projekt nr UDA-POKL.04.02.00-00-053/08-00 „Upowszechnianie osiągnięć polskiej oraz światowej fotowoltaiki w  procesie kształcenia na poziomie wyższym”. — S. [1–6]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [5–6], Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Technology of multilayer a-Si:H/$\mu$c-Si:H films applicated to solar cell / Andrzej KOŁODZIEJ, Witold BARANOWSKI, Tomasz KOŁODZIEJ // W: ELTE 2010 ; IMAPS-CPMT : 10\textsuperscript{th} Electron Technology conference and 34\textsuperscript{th} international microelectronics and packaging : Wrocław, 22–25 September 2010 : book of abstracts / eds. Andrzej Dziedzic, Karol Malecha, Jacek Radojewski. — Wrocław : Wrocław University of Technology. Faculty of Microsystem Electronics and Photonics, [2010]. — Dod. na okł.: 1910–2010 100 years of Technical Universities in Wrocław. — ISBN: 978-83-917701-8-4. — S. 146. — Bibliogr. s. 146. — Pełny tekst W: ELTE 2010 ; IMAPS-CPMT [Dokument elektroniczny] : 10th electron technology conference ELTE2010 and 34th international microelectronics and packaging IMAPS-CPMT Poland conference : Wrocław, 22–25 September 2010 : proceedings of ELTE/IMPAS-CPMT 2010 conference. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe / eds. Andrzej Dziedzic [et al.]. — Wrocław : University of Technology, cop. 2010. — 1 dysk optyczny. — S. 1–4. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 4, Abstr. — ISBN 978-83-917701-9-1

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Technology of silicon-germanium thin films in gradient configuration / Andrzej KOŁODZIEJ, Paweł KREWNIAK, Witold BARANOWSKI // W: ELTE 2007 : IX electron technology conference : Kraków 4–7.09.2007 : book of abstracts / eds. Katarzyna Zakrzewska, Halina Czternastek, Barbara Swatowska, Michał Warzecha ; AGH University of Science and Technology. Faculty of Electrical Engineering, Automatics, Computer Science and Electronics. Department of Electronics. — Kraków : Przedsiębiorstwo Wielobranżowe STABIL, [2007]. — ISBN10: 83-88309-46-3. — S. 266. — Bibliogr. s. 266

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • X-ray, AFM, UV-VIS-IR analysis of a-Si:H/$\mu$c-Si:H supperlattice structure / Andrzej KOŁODZIEJ, Witold BARANOWSKI, Edward KUSIOR, Jarosław KANAK // Optica Applicata ; ISSN 0078-5466. — 2011 vol. 41 no. 2, s. 449–454. — Bibliogr. s. 453–454. — 10th Electron Technology ELTE 2010 and 34th International Microelectronics and Packaging IMAPS/CPMT Poland joint conference / guest eds. Andrzej Dziedzic, Jacek Radojewski, Jarosław Serafińczuk. — Wrocław : Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2011. — tekst: http://www.if.pwr.wroc.pl/ optappl/pdf/2011/no2/optappl_4102p449.pdf

  • keywords: atomic force microscopy, X-ray, UV-VIS-IR analysis, nc-Si:H multilayer structure

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • X-ray, AFM, UV-VIS-IR analysis of multilayer a-Si:H/$\mu$c-Si:H system / Andrzej KOŁODZIEJ, Witold BARANOWSKI, Edward KUSIOR, Jarosław KANAK // W: ELTE 2010 ; IMAPS-CPMT : 10\textsuperscript{th} Electron Technology conference and 34\textsuperscript{th} international microelectronics and packaging : Wrocław, 22–25 September 2010 : book of abstracts / eds. Andrzej Dziedzic, Karol Malecha, Jacek Radojewski. — Wrocław : Wrocław University of Technology. Faculty of Microsystem Electronics and Photonics, [2010]. — Dod. na okł.: 1910–2010 100 years of Technical Universities in Wrocław. — ISBN: 978-83-917701-8-4. — S. 147. — Bibliogr. s. 147. — Pełny tekst W: ELTE 2010 ; IMAPS-CPMT [Dokument elektroniczny] : 10th electron technology conference ELTE2010 and 34th international microelectronics and packaging IMAPS-CPMT Poland conference : Wrocław, 22–25 September 2010 : proceedings of ELTE/IMPAS-CPMT 2010 conference. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe / eds. Andrzej Dziedzic [et al.]. — Wrocław : University of Technology, cop. 2010. — 1 dysk optyczny. — S. 1–4. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 4, Abstr. — ISBN 978-83-917701-9-1

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: