doktorant
Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: brak
An XPS and TEM study of thin films ${CeO_{2}-CuO_{x}}$ for gas sensor application / A. KOPIA, Ch. Leroux, K. KOWALSKI, M. CHMIELOWSKA, J. R. Gavarri // W: SOTAMA 2007 : 2\textsuperscript{nd} symposium on Texture and microstructure analysis : Kraków, 26–28 September, 2007 : book of abstracts ; lectures and posters. — [Kraków : s. n.], [2007]. — S. 25–26, P-15
brak zdefiniowanych słów kluczowych
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Agnieszka Kopia, Kazimierz Kowalski
cyfrowy identyfikator dokumentu: