A microscopic and spectroscopic investigations in $CuO_{X}-CeO_{2-\delta}/Si$ thin films — Mikroskopowe i spektroskopowe badania cienkich warstw $CuO_{X}-CeO_{2-\delta}/Si$ / A. KOPIA, K. KOWALSKI, Ch. Leroux, M. CHMIELOWSKA // Archives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science ; ISSN 1733-3490. — 2008 vol. 53 iss. 1 spec. iss., s. 157–160. — Bibliogr. 160. — Zastosowano procedurę peer review. — SOTAMA : symposium on Texture and microstructure analysis : September 26–28, 2007, Cracow, Poland / guest eds. Jerzy Jura, Ewa Bełtowska, Jan T. Bonarski ; Institute of Metallurgy and Materials Science of the Polish Academy of Sciences, Cracow. — Warszawa ; Kraków : PAS. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science, 2008

An XPS and TEM study of thin films ${CeO_{2}-CuO_{x}}$ for gas sensor application / A. KOPIA, Ch. Leroux, K. KOWALSKI, M. CHMIELOWSKA, J. R. Gavarri // W: SOTAMA 2007 : 2\textsuperscript{nd} symposium on Texture and microstructure analysis : Kraków, 26–28 September, 2007 : book of abstracts ; lectures and posters. — [Kraków : s. n.], [2007]. — S. 25–26, P-15

${Ce_{1-x}Nd_{x}O_{2-\delta}/Si}$ thin films obtained by pulsed laser deposition: microstructure and conduction properties / M. CHMIELOWSKA, S. Villain, A. KOPIA, J. P. Dallas, J. KUSIŃSKI, J. R. Gavarri, Ch. Leroux // Thin Solid Films ; ISSN 0040-6090. — 2008 vol. 516 iss. 12, s. 3747–3754. — Bibliogr. s. 3754, Abstr.. — tekst: http://www-1sciencedirect-1com-1atoz.wbg2.bg.agh.edu.pl/science/article/pii/S0040609007011224/pdfft?md5=f1f0dab48e2dbacefdbf36a794f047ba&pid=1-s2.0-S0040609007011224-main.pdf

Characterization of oxide thin films deposited on $Si$ substrates by means of laser ablation / J. KUSIŃSKI, A. KOPIA, M. CHMIELOWSKA, S. KĄC, J. R. Gavarri [et al.] // W: Reactivity of solids : proceedings of the 14\textsuperscript{th} French-Polish seminar : Kraków 2005 = Reaktywność ciał stałych : materiały XIV seminarium francusko-polskiego / pod red. K. Przybylskiego ; PAN. Oddział w Krakowie, PTC. — Kraków : PTC, 2005. — (Polski Biuletyn Ceramiczny = Polish Ceramic Bulletin / Polskie Towarzystwo Ceramiczne) ; (Prace Komisji Nauk Ceramicznych / Polska Akademia Nauk. Oddział w Krakowie. Ceramika ; ISSN 0860-3340 ; vol. 92). — ISBN10:  8389541599. — S. 235–243. — Bibliogr. s. 243, Abstr.

Electron microscopy and spectroscopy investigations of $CuO_{x}-CeO_{2-\delta}/Si$ thin films / A. KOPIA, K. KOWALSKI, M. CHMIELOWSKA, Ch. Leroux // Surface Science ; ISSN 0039-6028. — 2008 vol. 602 iss. 7, s. 1313–1321. — Bibliogr. s. 1320–1321, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2008-01-11. — M. Chmielowska - pierwsza afiliacja: Université du Sud Toulon-Var, France. — tekst: http://goo.gl/zWfb6M

Microstructure and catalytic properties of oxide thin films deposited by PLD technique / J. KUSIŃSKI, A. KOPIA, M. CHMIELOWSKA, J. R. Gavarri // W: YUCOMAT 2010 : twelfth annual conference : Montenegro, September 6–10, 2010 : programme and the book of abstracts / ed. Dragan P. Uskoković. — Belgrade : Institute of Technical Sciences of the Serbian Academy of Sciences & Arts, cop. 2010. — S. 30

Morphologies and structures of $Ce_{1-x}M_{x}O_{2-\delta}/Si$ thin films grown by pulsed laser deposition / M. CHMIELOWSKA, A. KOPIA, J. KUSIŃSKI, J. R. Gavarri, Ch. Leroux // W: IMC16 : 16th International Microscopy Congress : Microscopy for the 21st century : 3–8 September 2006 Sapporo, Japan : proceedings. Vol. 3, Materials science / eds. Hideki Ichinose, Takahisa Sasaki. — [Japan : Publication committee of IMC16], [2006]. — S. 1568. — Bibliogr. s. 1568

Oxide thin films deposited by means of laser ablation: structure and properties : [abstract] / Jan KUSIŃSKI, Agnieszka KOPIA, Magdalena CHMIELOWSKA, Sławomir KĄC, Jan Marczak, Jozef Firak // W: Laser technology VIII: applications of lasers [Dokument elektroniczny] / eds. Wiesław Woliński, Zdzisław Jankiewicz, Ryszard S. Romaniuk. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [S. l. : SPIE], [2007]. — (Proceedings of SPIE / The International Society for Optical Engineering ; ISSN 0277-786X ; vol. 6598). — W bazie Web of Science ISBN: 978-0-8194-6734-8. — Ekran [1]. — Tryb dostępu: http://spie.org/x648.xml?pf=true&product_id=726531&search_results_URL [2008-04-09]. — Brak afiliacji AGH

Structural analyses of $Nd_{2}O_{3}$ doped $CeO_{2}$ thin films deposited by means of laser ablation / A. KOPIA, M. CHMIELOWSKA, Ch. Leroux, J. KUSIŃSKI, J. R. Gavarri // W: EM'2005 : XII international conference on Electron Microscopy of Solids : Kazimierz Dolny, Poland, 5–9 June 2005 : abstracts. — Warszawa : BEL Studio Sp. z o. o., 2005. — S. 91