Wykaz publikacji wybranego autora

Łukasz Madej, prof. dr hab. inż.

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kism, Katedra Informatyki Stosowanej i Modelowania


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / informatyka techniczna i telekomunikacja (25%)


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / metalurgia


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-1032-6963 orcid iD

ResearcherID: A-7918-2012

Scopus: 23103240000

PBN: 5e70920b878c28a04738f0d7

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • [referat, 2021]
  • TytułAnaliza wpływu parametrów procesu spawania metodą TIG na poziom odkształceń spawalniczych w stali odpornej na korozję
    AutorzyMaciej ŻARNIK, Hubert Matysiak, Łukasz MADEJ
    ŹródłoPLASTMET'2021 : zintegrowane studia podstaw deformacji plastycznej metali : XII konferencja naukowa : 23-26 listopada 2021, Łańcut : streszczenia / Sekcja Procesów Technologicznych Komitetu Inżynierii Materiałowej i Metalurgii PAN, Sekcja Mechaniki Materiałów Komitetu Mechaniki PAN. — Rzeszów : Katedra Przeróbki Plastycznej Wydziału Budowy Maszyn i Lotnictwa Politechniki Rzeszowskiej, 2021. — S. 59-60
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • [referat, 2021]
  • TytułData preparation in the digital material representation based 3D cellular automata model of static recrystallization
    AutorzyŁ. MADEJ, M. SITKO, M. MOJŻESZKO, Ł. RYCHŁOWSKI, D. ZYCH, K. PERZYŃSKI, G. CIOS
    ŹródłoICTP 2021 [Dokument elektroniczny] : the 13th international conference on the Technology of plasticity : July 25-30, 2021 : virtual event : technical program : [abstracts]. — [USA : The Ohio State University], 2021. — S. 28
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • [referat, 2021]
  • TytułDevelopment and identification of the cellular automata phase transformation model
    AutorzyMateusz SITKO, Maciej PIETRZYK, Roman Kuziak, Danuta SZELIGA, Yuling Chang, Wolfgang Bleck, Łukasz MADEJ
    ŹródłoESAFORM 2021 [Dokument elektroniczny] : 24th international conference on Material Forming : 14–16 April, 2021, online. — [Liège : ESAFORM], [2021]. — S. 2640/1–2640/12
  • keywords: model identification, cellular automata, microstructure evolution

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.25518/esaform21.2640

4
  • [referat, 2021]
  • TytułInvestigation of mechanical properties of the TiN thin films deposited on the various types of substrates based on the combination of nanoindentation and numerical modeling
    AutorzyK. PERZYŃSKI, G. CIOS, G. SZWACHTA, P. BAŁA, Ł. MADEJ
    ŹródłoYIC 2021 [Dokument elektroniczny] : VI ECCOMAS Young Investigators Conference : July, 7-9 2021, [book of abstracts] / Universitat Politècnica de València, ECCOMAS. — [València : Universitat Politècnica de València], [2021]. — S. 33
  • keywords: nano indentation, finite element modelling, TiN thin films, cohesive zones

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • [referat, 2021]
  • TytułPrediction of local inhomogeneities in the TiN thin films deposited on the aluminum substrate based on the combination of nanoindentation and numerical modeling
    AutorzyK. PERZYŃSKI, G. CIOS, P. BAŁA, Ł. MADEJ
    ŹródłoIWPDF 2021 [Dokument elektroniczny] : 2textsuperscript{nd} international workshop on Plasticity, damage and fracture of engineering materials : 18–20 August 2021, Ankara, Turkey : book of abstracts / ed. by Tuncay Yalçınkaya, Mehmet Dördüncü. — [Ankara : Middle East Technical University], [2021]. — S. 89
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • [referat, 2021]
  • TytułThe role of the initial digital microstructure generation algorithm in the cellular automata static recrystallization predictions : [abstract]
    AutorzyMateusz SITKO, Łukasz MADEJ
    ŹródłoMS&T21 [Dokument elektroniczny] : Materials Science & Technology 2021 : technical meeting and exhibition : October 17-20, 2021, Columbus. — [USA : TMS], [2021]. — Ekran [1]
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: