Application of neural networks to voltage fluctuations measurement – neural networks flickermeter / Marcin SZLOSEK, Bogusław ŚWIĄTEK, Zbigniew HANZELKA // W: ISNCC 2008 [Dokument elektroniczny] : IX conference-seminar : proceedings of the International School on Nanosinusoidal Currents and Compensation : 10–13 June 2008, Łagów, Poland / University of Zielona Góra [etc.]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway] : IEEE, cop. 2008. — 1 dysk optyczny. — e-ISBN: 978-1-4244-2130-5. — S. 1–5. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 5, Abstr.. — Tyt. przejęto z ekranu tytułowego ; w bazie Web of Science ISBN: 978-1-4244-2129-9 oraz zakres stron: 215-219

Application of the neural network in voltage fluctuation measurement – proposition of the new flickermeter / Marcin SZLOSEK, Bogusław ŚWIĄTEK, Zbigniew HANZELKA // W: Cigre session 41 : 27\textsuperscript{th} August – 1\textsuperscript{st} September 2006 / Conseil International des Grands Réseaux Électriques. — [France : CIGRE], [2006]. — S. [1–4]. — Bibliogr. s. [2–4]. — W publikacji błędnie podano imię autora: Bogdan Świątek

Comparative tests of flickermeters / Marcin SZLOSEK, Marcin Piekarz, Zbigniew HANZELKA, Andrzej BIEŃ, Władysław ŁOZIAK, Krzysztof PIĄTEK, Robert PIETRUCHA, [et al.] // W: CIRED 2003 : 17\textsuperscript{th} international conference and exhibition on Electricity distribution : Barcelona 12–15 May 2003. Session 2, Power quality and EMC : technical reports. — [Spain : s. n.], [2003]. — S. [1–5]. — Bibliogr. s. [5]

Sensibility of digital flickermeter to changes made to the design procedure / Hashad M., Hartman M., HANZELKA Z., BIEŃ A., SZLOSEK M. // W: PCIM 2003 Europe : official proceedings of the ninth European power quality conference : May 20–22, 2003 : Nürnberg, Germany. — [Germany : s. n.], [2003]. — S. 337–342. — Bibliogr. s. 342, Abstr.