Development of monolithic active pixel sensor in SOI technology fabricated on the wafer with thick device layer / W. KUCEWICZ, B. M. Armstrong, H. S. Gamble, P. Grabiec, K. Kucharski, J. Marczewski, W. MAZIARZ, H. NIEMIEC, F. H. Ruddell, M. SAPOR, D. Tomaszewski // W: 2008 IEEE NSS/MIC/RTSD conference record [Dokument elektroniczny] : Nuclear Science Symposium (NSS) ; Medical Imaging Conference (MIC) ; 16th international workshop on Room-Temperature Semiconductor X- and Gamma-Ray Detectors (RTSD) : 19–25 October 2008 Dresden, Germany / guest ed. Paul Sellin ; Nuclear & Plasma Sciences Society, Institute of Electrical and Electronics Engineers. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [New York] : IEEE, 2008. — 1 dysk optyczny. — (IEEE conference record – Nuclear Science Symposium & Medical Imaging Conference ; ISSN 1082-3654). — e-ISBN: 978-1-4244-2715-4. — S. 1123–1125. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 1125, Abstr.

Technology of SOI monolithic active pixel detectors for improvement of I–V caracteristics and reliability / H. NIEMIEC, W. KUCEWICZ, M. SAPOR, P. Grabiec, K. Kucharski, J. Marczewski, D. Tomaszewski, B. M. Armstrong, M. Bain, P. Baine, H. S. Gamble, S. L. Suder, F. H. Ruddell // W: MIXDES 2008 : MIXed DESign of integrated circuits and systems : proceedings of the 15\textsuperscript{th} international conference : Poznań, Poland, 19–21 June, 2008 / ed. Andrzej Napieralski. — Łódź : Department of Microelectronics and Computer Science, Technical University of Łódź, cop. 2008 + CD-ROM. — ISBN10: 83-922632-7-8. — S. 463–465. — Bibliogr. s. 465, Abstr.. — W bazie Web of Science ISBN: 978-83-922632-7-2