Wykaz publikacji wybranego autora

Tomasz Fiutowski, dr inż.

adiunkt

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kod, Katedra Oddziaływań i Detekcji Cząstek

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-2342-8854 orcid iD

ResearcherID: A-1943-2017

Scopus: 15044445900

PBN: 5e709208878c28a04738ee6e

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [referat, 2017]
  • TytułARTROC – a readout ASIC for GEM-based full-field XRF imaging system
    AutorzyT. FIUTOWSKI, W. DĄBROWSKI, S. KOPERNY, B. ŁACH, B. MINDUR, K. ŚWIENTEK, P. WIĄCEK
    ŹródłoiWoRiD Conference 2017 : 19textsuperscript {th} International workshop on Radiation imaging detectors : 2–6 July 2017, Kraków, Poland : book of abstracts. — [Kraków : s. n.], [2017]. — S. 37
2
  • [artykuł w czasopiśmie, 2017]
  • TytułErratum: Measurement of forward $J/psi$ production cross-sections in $pp$ collisions at $sqrt{s}=13$ TeV
    AutorzyR. Aaij, [et al.], M. FIRLEJ, [et al.], T. FIUTOWSKI, [et al.], M. IDZIK, [et al.], W. KUCEWICZ, [et al.], P. MORAWSKI, [et al.], J. MOROŃ, [et al.], A. OBŁĄKOWSKA-MUCHA, [et al.], K. ŚWIENTEK, [et al.], T. SZUMLAK, [et al.]
    ŹródłoThe Journal of High Energy Physics [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2017 iss. 5 art. no. 63, s. 1–17. — tekst: https://link.springer.com/content/pdf/10.1007%2FJHEP05%282017%29063.pdf
3
  • [artykuł w czasopiśmie, 2017]
  • TytułErratum: Measurements of the S-wave fraction in $B^{0} to K^{+} pi^{−}mu^{+}mu^{−}$ decays and the $B^{0} to K^{*}(892)^{0}mu^{+}mu^{−}$ differential branching fraction
    AutorzyR. Aaij, [et al.], M. FIRLEJ, [et al.], T. FIUTOWSKI, [et al.], M. IDZIK, [et al.], W. KUCEWICZ, [et al.], P. MORAWSKI, [et al.], J. MOROŃ, [et al.], A. OBŁĄKOWSKA-MUCHA, [et al.], K. ŚWIENTEK, [et al.], T. SZUMLAK, [et al.]
    ŹródłoThe Journal of High Energy Physics [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2017 iss. 4 art. no. 142, s. 1–8. — tekst: https://link.springer.com/content/pdf/10.1007%2FJHEP04%282017%29142.pdf
4
  • [referat, 2017]
  • TytułThe full-field XRF imaging system for investigation of paintings : [abstract]
    AutorzyP. M. WRÓBEL, T. FIUTOWSKI, P. Frączek, S. KOPERNY, M. LANKOSZ, A. Mendys, B. MINDUR, K. ŚWIENTEK, P. WIĄCEK, W. DĄBROWSKI
    Źródło24textsuperscript{th} international congress of X-ray optics and microanalysis [Dokument elektroniczny] : Trieste, Italy, 25–29 September 2017. — [Triest : s. n.], [2017]. — S. [1]
5
  • [referat, 2017]
  • TytułThe full-filed XRF imaging system for non-invasive investigation of artworks : abstract
    AutorzyA. Mendys, T. FIUTOWSKI, [et al.], S. KOPERNY, M. LANKOSZ, B. ŁACH, B. MINDUR, K. ŚWIENTEK, P. WIĄCEK, P. WRÓBEL, W. DĄBROWSKI
    ŹródłoNUTECH-2017 [Dokument elektroniczny] : international conference on Developments and applications of nuclear technologies : Kraków, 10–13 September 2017. — [Kraków : s. n.], [2017]. — S. [1] S3_6