Wykaz publikacji wybranego autora

Sławomir Kąc, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-9556-2345 połącz konto z ORCID

ResearcherID: B-7293-2011

Scopus: 55946617200

PBN: 5e70920b878c28a04738f0c1

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [referat, 2008]
  • TytułFractal analysis of the scanning-electron microscopy patterns for the BCC/FCC phase separation in the iron-gold alloys
    AutorzyA. Błachowski, K. Ruebenbauer, A. RAKOWSKA, S. KĄC
    ŹródłoEM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — S. 34
2
  • [referat, 2008]
  • TytułProperties and microstructure of the new ${Fe-Si-P}$-base glass forming alloy
    AutorzyK. Ziewiec, K. Bryła, A. Błachowski, K. Ruebenbauer, K. Prusik, S. KĄC, T. KOZIEŁ
    ŹródłoEM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — S. 173
3
  • [referat, 2008]
  • TytułStructure and properties of ${Bi_{2}O_{3}}$ thin films deposited by PLD technique
    AutorzySławomir KĄC, Małgorzata Kąc
    ŹródłoEM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — S. 78