Wykaz publikacji wybranego autora

Stanisław Jan Skrzypek, prof. dr hab. inż.

emeryt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4245-6279 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 56056905800

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [referat, 2009]
  • TytułAnalysis of residual stresses using SiN2y method for alumina compacts before and after thermal treatment and mechanical machining
    AutorzyPutyra P., SKRZYPEK S., Smuk B., Podsiadło M.
    ŹródłoECERS : 11textsuperscript{th} international conference and exhibition of the European Ceramic Society : June 21–25, 2009 Kraków : conference programme and book of abstracts. — Kraków : [s. n.], 2009. — S. 72
2
3
  • [artykuł w czasopiśmie, 2009]
  • TytułNaprężenia własne w warstwach wierzchnich stopu tytanu $Ti6Al2Cr3Mo$ po szlifowaniu elektrochemicznym
    AutorzyStanisław Zaborski, Stanisław J. SKRZYPEK, Adam BRZEZIAK, Krzysztof Hübner
    ŹródłoInżynieria Materiałowa. — 2009 R. 30 nr 1, s. 28–31
4
  • [referat, 2009]
  • TytułNieniszcząca metoda pomiaru grubości powłok Cu
    AutorzyS. J. SKRZYPEK, K. CHRUŚCIEL, E. Garcia, M. GOŁY
    Źródło51 Konwersatorium Krystalograficzne : III sesja naukowa i warsztaty PTK : Wrocław, 25–27 VI 2009 : program, streszczenia komunikatów, lista uczestników i autorów prac / Komitet Krystalografii PAN, Polskie Towarzystwo Krystalograficzne, Instytut Niskich Temperatur i Badań Strukturalnych PAN. — [Wrocław : s. n.], [2009]. — S. 32
5
  • [fragment książki, 2009]
  • TytułNieniszczące pomiary grubości powłok elektrolitycznych
    AutorzyS. J. SKRZYPEK, K. CHRUŚCIEL, E. Garcia, M. GOŁY
    ŹródłoXXXVII Szkoła Inżynierii Materiałowej : Kraków–Krynica, 29.IX–2.X.2009 : monografia / pod red. Jerzego Pacyny ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej. — [Kraków : AGH. WIMiIP], [2009]. — S. 225–228
6
  • [referat, 2009]
  • TytułNieniszczący pomiar grubości powłok
    AutorzyS. J. SKRZYPEK, M. GOŁY, K. CHRUŚCIEL, E. Garcia
    ŹródłoKrajowa konferencja badań radiograficznych : „Popów 2009„ : 24–26 sierpnia 2009 r. : zbiór referatów / Politechnika Poznańska, NDT System – Warszawa. — Warszawa ; Poznań : s. n., 2009. — S. 115–121
7
  • [referat, 2009]
  • TytułSkład fazowy i mikrostruktura warstwy wierzchniej na podłożu stali austenitycznej 18-8 po laserowej modyfikacji
    AutorzyJoanna AUGUSTYN-PIENIĄŻEK, Stanisław J. SKRZYPEK, Marcin GOŁY
    ŹródłoSympozjum naukowe na temat badania własności metali. — Kraków : Instytut Inżynierii Materiałowej Politechniki Krakowskiej : Krakowski Oddział Stowarzyszenia Inżynierów i Techników Mechaników Polskich, 2009. — S. 99–106
8
9
  • [referat, 2009]
  • TytułTekstura i własności mechaniczne elektrolitycznie nanoszonych warstw miedzi
    AutorzyStanisław Jan SKRZYPEK, Joanna KOWALSKA, Małgorzata WITKOWSKA, Naroa Molina, Adam BUNSCH, Wiktoria RATUSZEK, Wiesław RAKOWSKI
    Źródło51 Konwersatorium Krystalograficzne : III sesja naukowa i warsztaty PTK : Wrocław, 25–27 VI 2009 : program, streszczenia komunikatów, lista uczestników i autorów prac / Komitet Krystalografii PAN, Polskie Towarzystwo Krystalograficzne, Instytut Niskich Temperatur i Badań Strukturalnych PAN. — [Wrocław : s. n.], [2009]. — S. 166
10
  • [referat, 2009]
  • TytułTexture and mechanical properties of electrodeposited copper thin films
    AutorzyS. J. SKRZYPEK, Naroa Molina, J. KOWALSKA, M. WITKOWSKA, A. BUNSCH, W. RATUSZEK, W. RAKOWSKI
    ŹródłoXXI conference on Applied crystallography : 20–24 September 2009 : Zakopane, Poland : book of abstracts / University of Silesia, Committee of Crystallography and Committee of Material Science of Polish Academy of Sciences. — [Katowice : US. Institute of Material Science], [2009]. — S. p24
11
  • [referat, 2009]
  • TytułThickness of polycrystalline copper coating measured by X-ray diffraction
    AutorzyS. J. SKRZYPEK, K. CHRUŚCIEL, M. Solay, E. Garcia, M. GOŁY
    ŹródłoXXI conference on Applied crystallography : 20–24 September 2009 : Zakopane, Poland : book of abstracts / University of Silesia, Committee of Crystallography and Committee of Material Science of Polish Academy of Sciences. — [Katowice : US. Institute of Material Science], [2009]. — S. 06