Wykaz publikacji wybranego autora

Stanisław Jan Skrzypek, prof. dr hab. inż.

emeryt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4245-6279 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 56056905800

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • [referat w czasopiśmie, 2002]
  • TytułApplication of non-linear $Sin^{2}psi$ method for stress determination using X-ray diffraction
    AutorzyA. BACZMAŃSKI, S. J. SKRZYPEK
    ŹródłoMaterials Science Forum. — 2002 vols. 404–407, s. 29–34
  • keywords: diffraction, self consistent model, microstresses, grazing incident angle

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4028/www.scientific.net/MSF.404-407.29