Wykaz publikacji wybranego autora

Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, prof. dr hab. inż.

emeryt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-1013-9757 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 55967022000

PBN: 5e70920b878c28a04738f0a3

OPI Nauka Polska

1

  • Chemical and structural imaging of gold-rich nanostructures on AIIIBV semiconductors by electron microscopy and machine learning / Benedykt R. Jany, Arkadiusz Janas, Witold Piskorz, Konrad Szajna, Aleksandr KRYSHTAL, Grzegorz CEMPURA, Paulina Indyka, Adam Kruk, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ, Franciszek Krok // W: IX krajowa konferencja Nanotechnologii NANO 2019 : 1–3 lipca 2019, Wrocław, Polska : książka streszczeń. — Wrocław : Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2019. — ISBN: 978-83-7493-091-8. — S. 40. — Bibliogr. s. 40

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Adam Kruk, Grzegorz Cempura, Oleksander Kryshtal

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2

  • Influence of high temperature exposure on the microstructure of Allvac® 718Plus superalloy studied by novel electron microscopy and tomography techniques / Sebastian LECH, Adam KRUK, Grzegorz CEMPURA, Aleksander Gil, Alina Agüero, Agnieszka Wusatowska-Sarnek, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: AMT 2019 : Advanced Materials and Technologies : XXII physical metallurgy and materials science conference : 9–12 June 2019, Bukowina Tatrzańska, Poland : programme & abstracts. — [Poland : s. n.], [2019]. — S. 94–95

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksander Gil, Adam Kruk, Grzegorz Cempura, Sebastian Lech

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3

  • Microstructure and phase composition of the $Ag-Al$ film wear track: through-thickness characterization by advanced electron microscopy / O. KRYSHTAL, A. KRUK, F. Mao, M. Taher, U. Jansson, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // Archives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science ; ISSN 1733-3490. — 2019 vol. 64 iss. 1, s. 251–256. — Bibliogr. s. 256. — tekst: http://www.imim.pl/files/archiwum/Vol1_2019/36.pdf

  • keywords: TEM, electrical contact, EDX, Ag-Al alloy, hexagonal phase

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Adam Kruk, Oleksander Kryshtal

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.24425/amm.2019.126245