Wykaz publikacji wybranego autora

Andrzej Bernasik, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-2018-0312 orcid iD

ResearcherID: O-9817-2017

Scopus: 55943414500

PBN: 5e709208878c28a04738ee59

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • Application of $Ar-GCIB$ depth profiling with XPS of selected cell lines
2
  • Chemical stability of polymers under $Ar-GCIB$ and X-ray irradiation
3
  • Effect of PDMS substrate stiffness on cancerous cells growth and adhesion
4
  • Growth mechanism of and residual stresses in scales on oxide-dispersion-strengthened $Fe20Cr5Al+Y_{2}O_{3}$ alumina former oxidized at $1000^{\circ}$C
5
  • Interdiffusion of fullerene derivative into conjugated polymer matrix upon solvent vapor annealing
6
  • XPS depth profiling of organic photodetectors with the gas cluster ion beam
7
  • XPS/UPS depth profiling with gas cluster ion beam for characterization of interfaces in thin multilayer organic structures