Wykaz publikacji wybranego autora

Aleksander Gil, prof. dr hab.

profesor zwyczajny

Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki
WIMiC-ktspa, Katedra Technologii Szkła i Powłok Amorficznych


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria chemiczna


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-7364-0648 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 7202429607

PBN: 5e70920a878c28a04738efb5

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • [referat, 2020]
  • TytułOn the oxidation resistance of chromia-forming high entropy alloys
    AutorzyM. JAWAŃSKA, J. DĄBROWA, M. STYGAR, A. GIL, G. Cieślak, T. Kulik, J. JEDLIŃSKI
    ŹródłoProceedings of III European summer school on Materials science : 5.X – 9.X.2020 Dresden / ed. by Magdalena Bieda ; Institute of Metallurgy and Materials Science of the Polish Academy of Sciences, Poland, Dresden Fraunhofer Cluster Nanoanalysis, Germany. — Kraków–Dresden : Institute of Metallurgy and Materials Science of the Polish Academy of Sciences, 2020. — S. 44–48
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • [referat, 2020]
  • TytułThree-dimensional study of the oxide scale formed on a polycrystalline nickel-based superalloy ATI 718Plus®
    AutorzySebastian LECH, Adam KRUK, Aleksander GIL, Grzegorz CEMPURA, Agnieszka Wusatowska-Sarnek, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoEM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30textsuperscript{th} - December 2textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — S. 104
  • keywords: high temperature oxidation, superalloy, high resolution TEM, high resolution STEM, FIB SEM tomography

    cyfrowy identyfikator dokumentu: