Wykaz publikacji wybranego autora

Oleksander Kryshtal, dr hab., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-6528-8821 orcid iD

ResearcherID: G-2094-2016

Scopus: 66024065553

PBN: 602b70c09543c7410626dd44

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
2
  • Badanie struktury granic ziaren w zgorzelinie $Cr_2O_3$ powstałej na chromie implantowanym jonowo itremThe study of the structure of the grain boundaries of the $Cr_2O_3$ scale formed on chromium implanted with yttrium / Aleksander GIL, Oleksander KRYSHTAL, Tomasz BRYLEWSKI // Ochrona przed Korozją ; ISSN 0473-7733. — 2017 vol. 60 nr 11, s. 387. — Afiliacja autorów: Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie

  • słowa kluczowe: wysokotemperaturowe utlenianie, zgorzelina Cr2O3, implantacja jonowa

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
4
  • Combinatorial study of gradient Ag-Al thin films: microstructure, phase formation, mechanical and electrical properties / Fang Mao, Mamoun Taher, Oleksandr KRYSHTAL, Adam KRUK, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ, Mikael Ottosson, Anna M. Andersson, Urban Wiklund, Ulf Jansson // ACS Applied Materials & Interfaces ; ISSN 1944-8244. — 2016 vol. 8 iss. 44, s. 30635–30643. — Bibliogr. s. 30642–30643, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2016-10-17

  • keywords: electrical contact, Ag-Al alloy, combinatorial approach, low friction, adhesive wear, hexagonal phase

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1021/acsami.6b10659

5
  • Contact melting in Ag/Ge layered nanofilms: critical thickness and onset temperature / Alexey A. Minenkov, Sergey I. Bogatyrenko, Aleksandr P. KRYSHTAL // W: NAP-2019 [Dokument elektroniczny] : proceedings of the 2019 IEEE 9\textsuperscript{th} international conference on Nanomaterials: Applications & Properties : Odesa, Ukraine, September 15–20, 2019, Pt. 1 / Ministry of Education and Science of Ukraine, [etc.]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Sumy : Sumy State University ; USA : IEEE, 2019. — Dysk Flash. — e-ISBN: 978-1-7281-2830-6. — S. 01TFC25-1–01TFC25-4. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 01TFC25-4, Abstr.. — Abstrakt dostępny online: {https://nap.sumdu.edu.ua/index.php/nap/nap2019/paper/view/2940} [2019-10-03]

    orcid iD
  • keywords: TEM, nano films, eutectic temperature, Ag-Ge, contact melting

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • Contact melting in Ag/Ge layered nanofilms: critical thickness and onset temperature / Alexey Minenkov, Aleksandr KRYSHTAL, Sergey Bogatyrenko // W: Microstructure and properties of micro- and nanoscale materials, films and coatings (NAP 2019) : selected articles from the international conference on Nanomaterials: applications and properties / eds. Alexander D. Pogrebnjak, Oleksandr Bondar. — Singapore : Springer Nature Singapore Pte Ltd., cop. 2020. — (Springer Proceedings in Physics ; ISSN 0930-8989 ; vol. 240). — ISBN: 978-981-15-1741-9 ; e-ISBN: 978-981-15-1742-6. — S. 287–295. — Bibliogr., Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-01-29

    orcid iD
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1007/978-981-15-1742-6_27

7
8
  • De-wetting of nanosized binary films: a case study on Au-Ge / I. S. Zelenina, S. I. Bogatyrenko, A. A. Minenkov, A. P. KRYSHTAL // W: NAP-2017 : proceedings of the 2017 IEEE 7\textsuperscript{th} international conference on Nanomaterials: Applications & Properties : Zatoka, Ukraine, September 10–15, 2017, Pt. 2 / Ministry of Education and Science of Ukraine, Sumy State University. — Sumy : Sumy State University, 2017. — ISBN: 978-1-5386-2810-2. — S. 02NTF08-1–02NTF08-4. — Bibliogr. s. 02NTF08-4, Abstr.. — tekst: https://goo.gl/qJPYmS

    orcid iD
  • keywords: thin films, de-wetting, Au-Ge, melting temperature

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/NAP.2017.8190369

9
  • Diluted and concentrated organosols of fullerene $C_{60}$ in the toluene-acetonitrile solvent system as studied by diverse experimental methods / Olena A. Kyzyma, Nikolay O. Mchedlov-Petrossyan, Younis Turki Mahmood Al-Shuuchi, Timur V. Tropin, Oleksandr I. Ivankov, Nika N. Kriklya, Taras Yu. Gromovoy, Aleksandr P. KRYSHTAL, Alexander N. Zhigunov, Elena A. Korosteleva, Sergey V. Shekhovtsov, Vasil M. Garamus, Leonid A. Bulavin // Fullerenes, Nanotubes and Carbon Nanostructures ; ISSN 1536-383X. — 2021 vol. 29 no. 4, s. 315–330. — Bibliogr. s. 328–330, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-11-11. — tekst: https://www-1tandfonline-1com-1vamikazk00e8.wbg2.bg.agh.edu.pl/doi/pdf/10.1080/1536383X.2020.1841752?needAccess=true

    orcid iD
  • keywords: SAXS, C60 fullerene, toluene-acetonitrile mixed solvents, DLS, SANS

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1080/1536383X.2020.1841752

10
11
  • Effect of concentrated solar energy on microstructure evolution of selective laser melted $Ti-6Al-4V$ alloy / Lucia-Antoneta Chicos, Sebastian Marian Zaharia, Grzegorz CEMPURA, Adam KRUK, Sebastian LECH, Oleksandr KRYSHTAL, Maciej ZIĘTARA, Grzegorz MICHTA, Jose Rodríguez, Mihaela Cosnita, Mihai Alin Pop, Camil Lancea // International Journal of Advanced Manufacturing Technology ; ISSN 0268-3768. — 2022 vol. 118 iss. 8–9, s. 3183–3207. — Bibliogr. s. 3204–3207, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2021-10-11. — tekst: https://link.springer.com/content/pdf/10.1007/s00170-021-08136-6.pdf

    orcid iD
  • keywords: microstructure, Ti-6Al-4V, selective laser melting, sustainable manufacturing, concentrated solar energy, martensite decomposition

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1007/s00170-021-08136-6

12
13
14
15
16
17
18
  • Interaction of polymethine dyes with detonation nanodiamonds / Alexander A. Ishchenko, Nikolay O. Mchedlov-Petrossyan, Nika N. Kriklya, Aleksandr P. KRYSHTAL, Eiji Ōsawa, Andrii V. Kulinich // ChemPhysChem [Dokument elektroniczny]. - Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1439-7641. — 2019 vol. 20 no. 8, s. 1028–1035. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 1035. — Publikacja dostępna online od: 2019-03-08. — tekst: https://onlinelibrary-1wiley-1com-100003ekx01b1.wbg2.bg.agh.edu.pl/doi/epdf/10.1002/cphc.201900083

    orcid iD
  • keywords: adsorption, fluorescence, absorption spectra, nano diamond, polymethine dyes

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1002/cphc.201900083

19
  • Interfacial kinetics in nanosized Au/Ge films: an \emph {in situ} TEM study / Aleksandr P. KRYSHTAL, Alexey A. Minenkov, Paulo J. Ferreira // Applied Surface Science ; ISSN 0169-4332. — Tytuł poprz.: Applications of Surface Science. — 2017 vol. 409, s. 343–349. — Bibliogr. s. 349, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2017-03-08. — A. P. Kryshtal – dod. afiliacja: Karazin Kharkiv National University. — tekst: https://goo.gl/O0Pb12

    orcid iD
  • keywords: TEM, metal induced crystallization, liquid film migration, fcc germanium, solid-liquid interface, in situ transmission electron microscopy

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.apsusc.2017.03.037

20
21
22
  • Kinetics of Ag-induced crystallization of amorphous Ge films probed by EELS plasmon mapping in TEM / Aleksandr KRYSHTAL, Sergey Bogatyrenko // W: NAP-2019 [Dokument elektroniczny] : proceedings of the 2019 IEEE 9\textsuperscript{th} international conference on Nanomaterials: Applications & Properties : Odesa, Ukraine, September 15–20, 2019, Pt. 1 / Ministry of Education and Science of Ukraine, [etc.]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Sumy : Sumy State University ; USA : IEEE, 2019. — Dysk Flash. — e-ISBN: 978-1-7281-2830-6. — S. 01SSI05-1. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 01SSI05-1. — Abstrakt dostępny online: {https://nap.sumdu.edu.ua/index.php/nap/nap2019/paper/view/2934} [2019-10-03]

  • keywords: plasmon, Ag, metal induced crystallization, EELS, in sity TEM, Ge

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

23
24
  • Melting and crystallization temperatures in $Bi–Ge$ nanofilms probed by a quartz Q-factor analysis / S. I. Bogatyrenko, A. A. Minenkov, A. P. KRYSHTAL // Nanotechnology ; ISSN 0957-4484. — 2020 vol. 31 no. 22 art. no. 225704, s. 1–6. — Bibliogr. s. 6, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-03-13. — O. Kryshtal - dod. afiliacja: International Centre of Electron Microscopy for Material Science AGH. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1361-6528/ab7587/pdf

    orcid iD
  • keywords: phase transition, nano films, Bi-Ge, Q-factor, quartz crystal resonator

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1361-6528/ab7587

25