Wykaz publikacji wybranego autora

Oleksander Kryshtal, dr hab., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-6528-8821 orcid iD

ResearcherID: G-2094-2016

Scopus: 66024065553

PBN: 602b70c09543c7410626dd44

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Badanie struktury granic ziaren w zgorzelinie $Cr_2O_3$ powstałej na chromie implantowanym jonowo itrem — The study of the structure of the grain boundaries of the $Cr_2O_3$ scale formed on chromium implanted with yttrium / Aleksander GIL, Oleksander KRYSHTAL, Tomasz BRYLEWSKI // Ochrona przed Korozją ; ISSN 0473-7733. — 2017 vol. 60 nr 11, s. 387. — Afiliacja autorów: Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie

  • słowa kluczowe: wysokotemperaturowe utlenianie, zgorzelina Cr2O3, implantacja jonowa

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Brylewski, Aleksander Gil

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2

  • Bimetallic Au-Ni nanoparticles for catalysis applications : news from AGH-UST / Oleksandr KRYSHTAL // KMM-VIN Newsletter [Dokument elektroniczny] / European Virtual Institute on Knowledge-Based Multifunctional Materials AISBL. — 2020 iss. 22 Summer 2020, s. 7. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 7. — tekst: https://www.kmm-vin.eu/media/newsletter/newsletter_22_20200728-155335.pdf

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
4

  • Characterization of the glass-coated CoSb3 thermoelectric material by electron microscopy / Kinga ZAWADZKA, Oleksandr KRYSHTAL, Marek NOCUŃ, Elżbieta GODLEWSKA, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EMC 2016 : European Microscopy Congress 2016. Vol. 2[.2], Materials science / ed. by Odile Stéphan, Martin Hytch, Thierry Epicier. — Weinheim : Wiley-VCH Verlag GmbH, 2016. — ISBN: 978-3-527-34299-0. — S. 926–927. — Błąd w zapisie nazwiska: O. Krysthal

  • keywords: thermoelectrics, CoSb3, glass coating

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1002/9783527808465.EMC2016.6895

5

  • Chemical and structural imaging of gold-rich nanostructures on AIIIBV semiconductors by electron microscopy and machine learning / Benedykt R. Jany, Arkadiusz Janas, Witold Piskorz, Konrad Szajna, Aleksandr KRYSHTAL, Grzegorz CEMPURA, Paulina Indyka, Adam Kruk, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ, Franciszek Krok // W: IX krajowa konferencja Nanotechnologii NANO 2019 : 1–3 lipca 2019, Wrocław, Polska : książka streszczeń. — Wrocław : Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2019. — ISBN: 978-83-7493-091-8. — S. 40. — Bibliogr. s. 40

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Adam Kruk, Grzegorz Cempura

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6

  • Effect of electron beam irradiation in TEM on the local temperature of Au-Ge nanoparticle / M. MIELCZAREK, J. PAWLAK, A. KRYSHTAL // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30\textsuperscript{th} - December 2\textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — S. 110. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Jakub Pawlak, Mikołaj Mielczarek

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7

  • Effect of gadolinium segregation to grain boundaries in $Cr_{2}O_{3}$ scale on the physicochemical properties of Crofer 22 APU ferritic steel with a spinel coating — Wpływ segregacji gadolinu na granicach ziaren w zgorzelinie $Cr_{2}O_{3}$ na właściwości fizykochemiczne stali ferrytycznej Crofer 22 APU pokrywanej warstwą spinelową / Tomasz BRYLEWSKI, Michał MARCZYŃSKI, Sebastian Molin, Jan WYRWA, Oleksander KRYSHTAL, Aleksander GIL // W: 12\textsuperscript{th} conference of the Polish Ceramic Society and 3\textsuperscript{rd} Polish–Slovak–Chinese seminar on Ceramics : Zakopane, September 12\textsuperscript{th}–15\textsuperscript{th} 2019 : book of abstracts / ed. Zbigniew Pędzich, Magdalena Zarzecka-Napierała. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2019. — ISBN: 978-83-65955-38-8. — S. 46

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Brylewski, Aleksander Gil, Jan Wyrwa, Michał Marczyński

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
9

  • Glass coating/$CoSb_{3}$ interface: characterization by transmission electron microscopy / K. ZAWADZKA, E. GODLEWSKA, O. KRYSHTAL, M. NOCUŃ, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, M. Chmielewski, R. Zybała // W: ECT 2016 [Dokument elektroniczny] : 14\textsuperscript{th} European Conference on Thermoelectrics : Lisbon, Portugal, 20–23 September 2016 : book of abstracts / Instituto Superior Técnico. Universidade de Lisboa. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Lisbon : s. n.], [2016]. — Dysk Flash. — S. 173. — Wymagania systemowe: Adobe Reader

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

10

  • Growth mechanism of $Cr_{2}O_{3}$ scale formed on chromium implanted with yttrium / Aleksander GIL, Oleksander KRYSTHAL, Tomasz BRYLEWSKI, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: 18\textsuperscript {th} international Polish-French conference on Reactivity of solids [Dokument elektroniczny] : 2–4 July 2018, Krakow, Poland : programme and abstracts. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Kraków : AGH University of Science and Technology], [2018]. — 1 dysk optyczny. — Opis częśc. wg okł.. — S. 24. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM

  • keywords: oxidation, microstructure, reactive element effect, chromia scale, STEM

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Brylewski, Aleksander Gil, Aleksandra Czyrska-Filemonowicz

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

11

  • In situ aberration-corrected STEM studies of metal-induced crystallization of amorphous semiconductor films / KRYSHTAL A. P., Bogatyrenko S. I. // W: NANO-2019 : international research and practice conference ”Nanotechnology and Nanomaterials” : 27–30 August 2019, Lviv, Ukraine : book of abstracts. — Kiev : LLC, cop. 2019. — ISBN: 978-966-97587-3-6. — S. 373. — Bibliogr. w formie przypisów

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

12

  • In situ TEM study of kinetics of Ag-induced crystallization of amorphous Ge films / Aleksandr KRYSHTAL, Sergiy Bogatyrenko, Paulo Ferreira // W: ICTF JVC 2020 [Dokument elektroniczny] : 18th International Conference on Thin Films & 18th Joint Vacuum Conference : 22–26 November 2020, Budapest, Hungary : full online conference : book of abstracts. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Budapest : Hungarian Vacuum Society ; Union for Vacuum Science, Technique and Applications], [2020]. — S. 79. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://static.akcongress.com/downloads/ictf/ictf2020-book-of-abstracts.pdf [2020-11-27]

  • keywords: phase transformations, nucleation, metal induced crystallization, EELS, metastable phases, in situ HR (S)TEM

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

13

  • Kinetics of melting-crystallization on single Sn nanoparticles: a HR STEM–EELS study / A. KRYSHTAL, S. Bogatyrenko // W: 13\textsuperscript{th} Polish-Japanese joint seminar on Micro and nano analysis : [25–28 September 2022, Ustroń] : abstract book. — [Katowice : University of Silesia], [2022]. — S. 29–30. — Bibliogr. s. 30

  • keywords: phase transformations, in situ TEM, valence EELS

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

14

  • Krystalograficzne pochodzenie zmian reżimu przewodnictwa elektrycznego dla nano-złącza metal-półprzewodnik (M-S) — [Crystallographic origin of electrical conduction regime changes for nano metal-semiconductor (M-S) junction] / Arkadiusz Janas, Witold Piskorz, Aleksandr KRYSHTAL, Grzegosz CEMPURA, Wojciech Bełza, Adam KRUK, Benedykt R. Jany, Franciszek Krok // W: NANO 2022 [Dokument elektroniczny] : X krajowa konferencja Nanotechnologii : Kraków, 3-8 lipca 2022, Polska : książka streszczeń / red. Benedykt R. Jany, Piotr Piątkowski, Franciszek Krok. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Kraków : Wydział Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanej Uniwersytet Jagielloński, cop. 2022. — S. 184. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://nanosam.pl/nanotechnologia2022/resources/KKNanoAbst2022_v6_Online.pdf [2022-10-05]. — Bibliogr. s. 184. — A. Kryshtal, G. Cempura, A. Kruk - afiliacja: Akademia Górniczo-Hutnicza

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Adam Kruk, Grzegorz Cempura

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

15

  • Liquid-like migration of solid Ni islands on amorphous carbon substrate / Bogatyrenko S., KRYSHTAL A. // W: XVI international conference on Physics and technology of thin films and nanosystems [Dokument elektroniczny] : (dedicated to memory professor Dmytro Freik) : Ivano-Frankivsk, May 15–20, 2017 : materials = XVI mižnarodna konferencìâ z Fìziki ì tehnologìï tonkih plìvok ta nanosistem : (prisvâčena pam'âtì profesora Dmitra Freïka) : Ivano-Frankìvs'k, 15–20 travnâ, 2017 : materìali / Ministry of Education and Science of Ukraine, [et al.]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Ivano-Frankivsk : Vasyl Stefanyk Precarpathian National University], [2017]. — (International Conference on the Physics and Technology of Thin Films and Nanosystems ; ISSN 2519-8297). — S. 109. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://goo.gl/XggU6a [2018-02-14]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

16

  • Melting and crystallization of nanosized Bi films confined between Ge layers / A. P. KRYSHTAL, A. A. Minenkov, S. I. Bogatyrenko // W: DSL2018 [Dokument elektroniczny] : 14\textsuperscript{th} international conference on Diffusion in Solids and Liquids : 25–29 June, Amsterdam, Netherlands : abstract book / ed. by DSL Conference. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Amsterdam : s. n.], [2018]. — Dysk Flash. — S. 157. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 157

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

17

  • Melting process and the size dependence of the eutectic temperature of Ag-Ge films / O. KRYSHTAL, A. Minenkov, S. Bogatyrenko, A. GRUSZCZYŃSKI // W: XVI International conference on Electron microscopy : 10 – 13 September 2017, Jachranka, Poland : conference program and book of abstracts / Warsaw University of Technology, Polish Society for Microscopy. — [Polska : WUT], [2017]. — S. 106

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Adam Gruszczyński

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

18

  • Metal-induced crystallization of amorphous semiconductor films: nucleation phenomena in $Ag-Ge$ couples / A. KRYSHTAL, S. Bogatyrenko, P. Ferreira // W: MC 2019 [Dokument elektroniczny] : Microscopy Conference : 1–5 September 2019, Berlin, Germany : abstracts. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Berlin : s. n.], [2019]. — S. 83–84. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://www.microscopy-conference.de/fileadmin/congress/media/mc2019/druckelemente/MC2019_Proceedings.pdf [2019-10-04]. — Bibliogr. s. 83

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

19

  • Metastable phases in metal-semiconductor nanosized alloys : news from AGH-UST / Oleksandr KRYSHTAL // KMM-VIN Newsletter [Dokument elektroniczny] / European Virtual Institute on Knowledge-Based Multifunctional Materials AISBL. — 2019 iss. 21 December 2019, s. 12–13. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — tekst: https://www.kmm-vin.eu/media/newsletter/Newsletter_21.pdf

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

20

  • Microscopic investigations of a Cr2O3 scale formed on a substrate with implanted yttrium ions : [abstract] / Aleksander GIL, Oleksandr KRYSHTAL, Tomasz BRYLEWSKI, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EUROCORR 2018 [Dokument elektroniczny] : the annual congress of the European Federation of Corrosion : applied science with constant awareness : 9–13 September, Cracow/Poland. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Kraków : s. n.], [2018]. — Dysk Flash. — ISBN (wersji drukowanej) na podstawie bazy Scopus. — ISBN: 978-151088637-7. — S. [1]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Publ. w cz.: Hot Gasses

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Brylewski, Aleksander Gil, Aleksandra Czyrska-Filemonowicz

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

21

  • Microstructure and phase composition of the Ag-Al film wear track: through-thickness characterization by advanced electron microscopy / O. KRYSHTAL, A. KRUK, F. Mao, U. Jansson, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: XVI International conference on Electron microscopy : 10 – 13 September 2017, Jachranka, Poland : conference program and book of abstracts / Warsaw University of Technology, Polish Society for Microscopy. — [Polska : WUT], [2017]. — S. 105. — Bibliogr. s. 105

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Adam Kruk

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

22

  • On the Au-Ni equilibrium phase diagram for 6 nm sized nanoparticles / Bogatyrenko S., KRYSHTAL A., Minenkov A., KRUK A. // W: NANO-2019 : international research and practice conference ”Nanotechnology and Nanomaterials” : 27–30 August 2019, Lviv, Ukraine : book of abstracts. — Kiev : LLC, cop. 2019. — ISBN: 978-966-97587-3-6. — S. 561

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Adam Kruk

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

23

  • On the liquid phase stability in nanoscale layered Bi-Ge films: an \emph {in situ} TEM study / Minenkov A. A., Bogatyrenko S. I., KRYSHTAL A. P. // W: XVI international conference on Physics and technology of thin films and nanosystems [Dokument elektroniczny] : (dedicated to memory professor Dmytro Freik) : Ivano-Frankivsk, May 15–20, 2017 : materials = XVI mižnarodna konferencìâ z Fìziki ì tehnologìï tonkih plìvok ta nanosistem : (prisvâčena pam'âtì profesora Dmitra Freïka) : Ivano-Frankìvs'k, 15–20 travnâ, 2017 : materìali / Ministry of Education and Science of Ukraine, [et al.]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Ivano-Frankivsk : Vasyl Stefanyk Precarpathian National University], [2017]. — (International Conference on the Physics and Technology of Thin Films and Nanosystems ; ISSN 2519-8297). — S. 129. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://goo.gl/XggU6a [2018-02-14]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

24

  • On the mechanism of metal-induced crystallization: an in situ TEM study of nanosized Au/Ge films : [abstract] / Aleksandr KRYSHTAL, Alexey Minenkov, Paulo Ferreira // W: EMC 2016 : European Microscopy Congress 2016. Vol. 2[.1], Materials science / ed. by Odile Stéphan, Martin Hytch, Thierry Epicier. — Weinheim : Wiley-VCH Verlag GmbH, 2016. — ISBN: 978-3-527-34299-0. — S. 7–8. — O. Kryshtal - dod. afiliacja: Karazin Kharkiv National University, Ukraine

  • keywords: eutetic melting, de-wetting, fcc GE, in situ TEM

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1002/9783527808465.EMC2016.4573

25

  • Phase transformations in nanoscale metal-semiconductor couples: in situ (S)TEM studies / A. KRYSHTAL, S. Bogatyrenko, A. Minenkov, P. Ferreira // W: INTERM 2019 [Dokument elektroniczny] : 6\textsuperscript{th} International Congress on Microscopy & Spectroscopy : Oludeniz/Mugla, Turkey, May 12-18, 2019 / eds. Ahmet Yavuz Oral, [et al.]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Turkey : s. n.], [2019]. — S. [74–75]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://www.intermcongress.org/images/files/book_of_abstracts_interm_2019.pdf [2019-06-08]

  • keywords: thin films, phase diagram, in situ TEM, size effect, eutectic temperature, metal induced crystallization of semiconductors, nucleation phenomena

    cyfrowy identyfikator dokumentu: