doktorant
Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: brak
Study of \emph{R}-factors used in structure determination by use of genetic algorithms from powder diffraction data consisting of a small number of very broad peaks / T. KOZIK, W. ŁUŻNY // W: Information Technology and Computational Physics : [CITCEP 2015 : Congress on Information Technology, Computational and Experimental Physics : 18–20 December 2015, Kraków, Poland] / eds. Piotr Kulczycki, [et al.]. — Cham : Springer International Publishing, cop. 2017. — (Advances in Intelligent Systems and Computing ; ISSN 2194-5357 ; vol. 462). — [Materiały z konferencji organizowanej przez Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej AGH]. — ISBN: 978-3-319-44259-4 ; e-ISBN: 978-3-319-44260-0. — S. 199–215. — Bibliogr. s. 215, Abstr.
keywords: computer modelling, genetic algorithms, fit factors, Rietveld factors, crystaline structure determination
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Łużny
cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1007/978-3-319-44260-0_12