Wykaz publikacji wybranego autora

Michał Marzec, mgr inż.

specjalista

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kzfj, Katedra Zastosowań Fizyki Jądrowej


  • 2021

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak aby uzupełnić ORCID_ID,
proszę przesłać numer na adres: orcid@agh.edu.pl
(szczegółowy opis na str. 2 Instrukcji)

ResearcherID: brak

Scopus: 57200270157

PBN: 5e7094cb878c28a0473c3eca

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Argon cluster ion beam depth profiling of polymers by X-ray photoelectron spectroscopy / A. BERNASIK, M. M. MARZEC, J. HABERKO, W. ŁUŻNY, J. Rysz, A. Budkowski // W: XIPS 2013 : IX international conference on X-ray investigations of polymer structure : Zakopane, Poland, 3–6 December 2013 : book of abstracts / ed. by Monika Basiura-Cembala ; University of Bielsko-Biała, Catholic University of Leuven, Committee on Material Science of the Polish Academy of Sciences. — Bielsko-Biała : Wydawnictwo Naukowe ATH, [2013]. — ISBN: 978-83-63713-59-1. — S. 38. — Bibliogr. s. 38

  • keywords: polymer, sputtering, XPS, GCIB

    cyfrowy identyfikator dokumentu: