Wykaz publikacji wybranego autora

Krzysztof Kolasiński, dr inż.

doktorant

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kis, Katedra Informatyki Stosowanej i Fizyki Komputerowej

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-6046-1923 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 55024910000

OPI Nauka Polska

1

  • Scanning gate microscopy simulations of the double slit electron interferometer / K. KOLASIŃSKI, B. SZAFRAN, M. P. NOWAK // W: 44\textsuperscript{th} ”Jaszowiec” 2015 international school and conference on the Physics of semiconductors [Dokument elektroniczny] : Wisła, Poland, June 20\textsuperscript{th}–25\textsuperscript{th}, 2015. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Warsaw : [s. n.], 2015. — S. [1]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://info.ifpan.edu.pl/Jaszowiec/J2015/abstracts/TuP7.pdf [2015-09-09]. — Bibliogr. s. [1]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Bartłomiej Szafran, Michał Piotr Nowak

    cyfrowy identyfikator dokumentu: