Wykaz publikacji wybranego autora

Kamil Staszek, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-3866-8466 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 52164552600

PBN: 5e7093de878c28a0473b2429

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Calibration of a multiport reflectometer using matched load and unknown loads / Kamil STASZEK // W: Proceedings of the 2019 IEEE Asia-Pacific Microwave Conference (APMC) [Dokument elektroniczny] : 10–13 December 2019, Marina Bay Sands, Singapore. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Piscataway : IEEE, cop. 2019. — USB ISBN: 978-1-7281-3516-8, Print on Demand(PoD) ISBN: 978-1-7281-3518-2. — e-ISBN: 978-1-7281-3517-5. — S. 1616–1618. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 1618, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-03-19. — tekst: https://ieeexplore-1ieee-1org-1000047m600b5.wbg2.bg.agh.edu.pl/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=9038619

    orcid iD
  • keywords: calibration, six-port, reflection coefficient measurement, multi-port reflectometer

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/APMC46564.2019.9038619

2
  • Investigation on optimum parameters of six-port reflectometers / Kamil STASZEK // International Journal of Information and Electronics Engineering (IJIEE) [Dokument elektroniczny]. - Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2010-3719. — 2019 vol. 9 no. 1, s. 30–33. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 33, Abstr.. — tekst: http://www.ijiee.org/vol9/700-CE044.pdf

    orcid iD
  • keywords: measurement uncertainty, reflection coefficient, six-port reflectometer, power meters, dynamics of power range, multi-port measurement technique

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.18178/ijiee.2019.9.1.700

3
4