Wykaz publikacji wybranego autora

Szymon Kulis, dr inż.

asystent

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kod, Katedra Oddziaływań i Detekcji Cząstek


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska




1
2
3
  • Investigation of the radiation hardness of GaAs sensors in an electron beam / K. Afanaciev, M. Bergholz, P. Bernitt, G. Chelkov, J. Gajewski, M. Gostkin, Ch. Grah, R. Heller, H. Henschel, A. Ignatenko, Z. Krumshteyn, S. KULIS, [et al.] // Journal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1748-0221. — 2012 vol. 7 no. 11, s. 1–11. — Tryb dostępu: http://iopscience.iop.org/1748-0221/7/11/P11022/pdf/1748-0221_7_11_P11022.pdf [2013-02-27]. — Bibliogr. s. 10–11, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1748-0221/7/11/P11022