Wykaz publikacji wybranego autora

Krzysztof Tomasz Wojciechowski, prof. dr hab. inż.

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki
WIMiC-kcn, Katedra Chemii Nieorganicznej

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki chemiczne (50%)

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-2459-9957 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 35580621900

PBN: 5e70920b878c28a04738f01b

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Engineering electronic structure and lattice dynamics to achieve enhanced thermoelectric performance of $Mn–Sb$ co-doped GeTe / Ashutosh Kumar, Preeti Bhumla, Taras Parashchuk, Saswata Bhattacharya, Krzysztof T. WOJCIECHOWSKI // W: VCT 2021 [Dokument elektroniczny] : Virtual Conference on Thermoelectrics : July 20–22, 2021 : book of abstracts. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Germany] : International Thermoelectric Society, [2021]. — S. 181. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: https://vct2021.mines.edu/wp-content/uploads/sites/5/2021/07/VCT2021-book-of-abstracts.pdf [2021-09-03]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2

  • Sposób pomiaru właściwości materiałów termoelektrycznych oraz sonda pomiarowa dla tego sposobu — [Method for measuring properties of thermoelectric materials and the measuring probe for this method] / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; wynalazca: Krzysztof WOJCIECHOWSKI. — Int.Cl.: G01R 27/00\textsuperscript{(2006.01)}. — Polska. — Opis patentowy ; PL 238822 B1 ; Udziel. 2021-07-08 ; Opubl. 2021-10-11. — Zgłosz. nr P.419240 z dn. 2016-10-24. — tekst: http://patenty.bg.agh.edu.pl/pelneteksty/PL238822B1.pdf

  • słowa kluczowe: mikroskopia skaningowa, materiały termoelektryczne, współczynnik Seebecka, przewodnictwo elektryczne

    keywords: scanning microscope, electrical conductivity, thermoelectric materials, Seebeck coefficient

    cyfrowy identyfikator dokumentu: