Wykaz publikacji wybranego autora

Tomasz Moskalewicz, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów


  • 2022

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria biomedyczna

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa (50%)


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria biomedyczna

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa (50%)


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-7142-452X orcid iD

ResearcherID: B-7106-2013

Scopus: 8555692700

PBN: 5e70920b878c28a04738f0e4

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
2
  • Microstructure and properties of thick nanocomposite $TiN/Si_{3}N_{4}$ coatings on Vanadis 23 HS steel / Tomasz MOSKALEWICZ, Sławomir ZIMOWSKI, Bogdan Wendler, Ivan Progalskiy, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // International Journal of Materials Research ; ISSN 1862-5282. — Tytuł poprz.: Zeitschrift für Metallkunde. — 2015 vol. 106 iss. 7, s. 732–740. — Bibliogr. s. 740. — XV international conference on Electron microscopy : 15–18 September 2014, Cracow, Poland

  • keywords: microstructure, nano composite coatings, magnetron sputtering, superhardness

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3139/146.111223

3
  • Optymalizacja struktury cienkich warstw $Bi_{2}O_{3}$ domieszkowanych Er wytwarzanych techniką PLDOptimization of the structure of Er doped $Bi_{2}O_{3}$ thin films prepared by the PLD technique / Sławomir KĄC, Łukasz CIENIEK, Tomasz MOSKALEWICZ // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2015 R. 36 nr 6, s. 479–483. — Bibliogr. s. 483

  • słowa kluczowe: PLD, ablacja laserowa, warstwy wierzchnie, tlenek Bi2O3 domieszkowany Er, wysokotemperaturowa faza delta-Bi2O3

    keywords: PLD, laser ablation, surface thin films, Bi2O3 oxide doped with Er, high temperature delta-Bi2O3 phase

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.15199/28.2015.6.26

4