Wykaz publikacji wybranego autora

Tomasz Moskalewicz, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów


  • 2022

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria biomedyczna

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa (50%)


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria biomedyczna

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa (50%)


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-7142-452X orcid iD

ResearcherID: B-7106-2013

Scopus: 8555692700

PBN: 5e70920b878c28a04738f0e4

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Microstructure characterisation of the $Ti-48Al-2Ag$ layer on Trimetal 834 / Tomasz MOSKALEWICZ, Bernhard Schaffer, Julian Wagner, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: XX Conference on Applied crystallography : 11–14 September 2006 ; Summer school on Polycrystalline structure determination ; Summer school on Strain/stress determination by TEM ; Workshop on Strain determination by X-ray methods : 14–16 September 2006 Wisła, Poland / University of Silesia, Committee of Crystallography and Committee of Material Science of Polish Academy of Sciences. — [Polska : University of Silesia], [2006]. — S. 58. — Bibliogr. s. 58

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: