Wykaz publikacji wybranego autora

Stanisław Jan Skrzypek, prof. dr hab. inż.

emeryt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4245-6279 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 56056905800

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • X-ray diffraction residual stress (RS) analysis as a non-destructive tool for production quality control / Stanisław J. SKRZYPEK // W: EAN 2012 : 50th annual conference on Experimental stress analysis : June 4–7, 2012, Tábor, Czech Republic : proceedings / eds. Růžička M., Doubrava K., Horák Z.. — Praha : Czech Technical University. Faculty of Mechanical Engineering, [2012]. — ISBN: 978-80-01-05060-6. — S. 423–430. — Bibliogr. s. 429–430, Abstr.. — Toż na dołączonym CD-ROMie. — S. [1–8]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [7–8], Abstr.

  • keywords: retained austenite, coatings, grazing incidence x-ray diffraction, residual macroscopic stresses, non destructive characterization, ball bearings

    cyfrowy identyfikator dokumentu: