Wykaz publikacji wybranego autora

Stanisław Jan Skrzypek, prof. dr hab. inż.

emeryt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4245-6279 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 56056905800

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Analysis of residual stresses using SiN2y method for alumina compacts before and after thermal treatment and mechanical machining / Putyra P., SKRZYPEK S., Smuk B., Podsiadło M. // W: ECERS : 11\textsuperscript{th} international conference and exhibition of the European Ceramic Society : June 21–25, 2009 Kraków : conference programme and book of abstracts. — Kraków : [s. n.], 2009. — ISBN: 978-83-60958-45-2. — S. 72. — Pełny tekst W: ECERS [Dokument elektroniczny] : proceedings of the 11th international conference and exhibition of the European Ceramic Society : Kraków, 21–25 June 2009 / eds. M. M. Bućko, [et al.]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Kraków : Polish Ceramic Society, 2009. — 1 dysk optyczny. — ISBN 978-83-60958-54-4. — S. 185–191. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Tyt. przejęto ze s. tyt. (po wybraniu opcji: Papers). — Bibliogr. s. 191, Abstr. — Tytuł publikacji: Analysis of residual stresses using the $sin^{2}\Psi$ method for $Al_{2}O_{3}$ materials before and after grinding and heat treatment processes

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
3
  • Texture and mechanical properties of electrodeposited copper thin films / S. J. SKRZYPEK, Naroa Molina, J. KOWALSKA, M. WITKOWSKA, A. BUNSCH, W. RATUSZEK, W. RAKOWSKI // W: XXI conference on Applied crystallography : 20–24 September 2009 : Zakopane, Poland : book of abstracts / University of Silesia, Committee of Crystallography and Committee of Material Science of Polish Academy of Sciences. — [Katowice : US. Institute of Material Science], [2009]. — Opis wg okł.. — S. p24

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Thickness of polycrystalline copper coating measured by X-ray diffraction / S. J. SKRZYPEK, K. CHRUŚCIEL, M. Solay, E. Garcia, M. GOŁY // W: XXI conference on Applied crystallography : 20–24 September 2009 : Zakopane, Poland : book of abstracts / University of Silesia, Committee of Crystallography and Committee of Material Science of Polish Academy of Sciences. — [Katowice : US. Institute of Material Science], [2009]. — Opis wg okł.. — S. 06

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: