Wykaz publikacji wybranego autora

Stanisław Jan Skrzypek, prof. dr hab. inż.

emeryt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4245-6279 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 56056905800

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Charakterystyka elektrolitycznych powłok Cu przy zastosowaniu rentgenowskich metod dyfrakcyjnych — [Characterisation of Cu electrolytic coatings using the X-ray diffraction methods] / Stanisław SKRZYPEK, Wiktoria RATUSZEK, Małgorzata WITKOWSKA, Adam BUNSCH, Krzysztof CHRUŚCIEL // W: 50 Konwersatorium Krystalograficzne : II sesja naukowa PTK : Wrocław, 26–28 VI 2008 : program, streszczenia komunikatów, lista uczestników i autorów prac = Polish Crystallographic Meeting / Komitet Krystalografii PAN, Polskie Towarzystwo Krystalograficzne, Instytut Niskich Temperatur i Badań Strukturalnych PAN. — [Wrocław : s. n], [2008]. — S. 280–281. — Bibliogr. s. 281

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Adam Bunsch, Krzysztof Chruściel, Wiktoria Ratuszek, Małgorzata Witkowska

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2

  • Makro i mikroskopowe naprężenia własne miedzianych powłok na podłożu mosiądzu — [Makro- and microscopic residual stresses of copper coastings on the brass substrate] / Stanisław SKRZYPEK, Joanna KOWALSKA, Edward KUSIOR, Marcin GOŁY // W: 50 Konwersatorium Krystalograficzne : II sesja naukowa PTK : Wrocław, 26–28 VI 2008 : program, streszczenia komunikatów, lista uczestników i autorów prac = Polish Crystallographic Meeting / Komitet Krystalografii PAN, Polskie Towarzystwo Krystalograficzne, Instytut Niskich Temperatur i Badań Strukturalnych PAN. — [Wrocław : s. n], [2008]. — S. 161–162. — Bibliogr. s. 162

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Edward Kusior, Joanna Kowalska, Marcin Goły

    cyfrowy identyfikator dokumentu: