Wykaz publikacji wybranego autora

Stanisław Jan Skrzypek, prof. dr hab. inż.

emeryt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4245-6279 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 56056905800

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Application of non-linear $Sin^{2}\psi$ method for stress determination using X-ray diffraction / A. BACZMAŃSKI, S. J. SKRZYPEK // Materials Science Forum ; ISSN 0255-5476. — Tytuł poprz.: Diffusion and Defect Monograph Series. — 2002 vols. 404–407, s. 29–34. — Bibliogr. s. 34, Abstr.. — 6th European Conference on Residual Stresses (ECRS 6) : Coimbra, Portugal, July 10-12, 2002

  • keywords: diffraction, self consistent model, microstresses, grazing incident angle

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Andrzej Baczmański

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4028/www.scientific.net/MSF.404-407.29