Wykaz publikacji wybranego autora

Stanisław Jan Skrzypek, prof. dr hab. inż.

emeryt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4245-6279 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 56056905800

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Nowe możliwości metod dyfrakcyjnych w badaniach cienkich warstw — New approach to application of X-ray diffraction methods to thin surface layers / Stanisław Jan SKRZYPEK // Zeszyty Naukowe / Politechnika Świętokrzyska ; ISSN 1897-2683. Mechanika ; ISSN 0239-4979. — 2001 z. 75, s. 91–99. — Bibliogr. s. 99, Streszcz., Summ.. — II [Druga] szkoła letnia Inżynierii powierzchni : młodzi inżynierowie w integracji z Unią Europejską : Kielce–Ameliówka, 11–13 września 2001 r.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: