Wykaz publikacji wybranego autora

Stanisław Jan Skrzypek, prof. dr hab. inż.

emeryt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4245-6279 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 56056905800

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Influence of texture on mechanical stiffness coeffitients in tin coatings / S. J. SKRZYPEK, W RATUSZEK, A. BACZMAŃSKI // W: XVIII conference on Applied crystallography : 4–7 September 2000 Katowice–Wisła, Poland and Rietveld method workshop : 7–9 September 2000 / University of Silesia ; Committee of Crystallography and Committee of Material Science of Polish Academy od Sciences. — [Katowice : UŚ], [2000]. — S. 99

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Problem of elastic anisotropy in stress measurement using graizing angle scattering geometry / A. BACZMAŃSKI, S. J. SKRZYPEK // W: MECA-SENS 2000 : stress evaluation by neutron and synchrotron radiation : international conference : 13–14 December 2000 Reims : abstracts. — [France : s. n.], [2000]. — S. 40. — Bibliogr. s. 40

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Progress in the X-ray diffraction of the residual macro-stresses determination related to surface layer gradients and anisotropy / S. J. SKRZYPEK, A. BACZMAŃSKI // W: 49\textsuperscript{th} Annual Denver X-ray conference : 31 July–4 August 2000 : abstracts / International Centre for Diffraction Data. — [USA : s. n. : ICDD], [2000]. — S. 155

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Residual macrostresses of metal plates after laser forming / S. J. SKRZYPEK, Z. Wesołowski, A. BACZMAŃSKI, E. KUSIOR // W: XVIII conference on Applied crystallography : 4–7 September 2000 Katowice–Wisła, Poland and Rietveld method workshop : 7–9 September 2000 / University of Silesia ; Committee of Crystallography and Committee of Material Science of Polish Academy od Sciences. — [Katowice : UŚ], [2000]. — S. 34

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • Thermal microstresses determined using diffraction and self-consistent model / A. BACZMAŃSKI, S. SKRZYPEK, K. WIERZBANOWSKI, P. Lipinski // W: MECA-SENS 2000 : stress evaluation by neutron and synchrotron radiation : international conference : 13–14 December 2000 Reims : abstracts. — [France : s. n.], [2000]. — S. 16. — Bibliogr. s. 16

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: