Sposób i uchwyt do badania próbek substancji polikrystalicznych metodą dyfrakcji promieni rentgenowskich — [Method of and holder for examining samples of polycrystalline substances by X-ray diffraction] / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; wynalazca: Antoni PAŃTA. — Int.Cl.\textsuperscript{7}: G01N 23/20. — Polska. — Opis patentowy ; PL 184162 B1 ; Udziel. 2002-04-05 ; Opubl. 2002-09-30. — Zgłosz. nr P.322606 z dn. 1997-10-13. — tekst: http://patenty.bg.agh.edu.pl/pelneteksty/PL184162B1.pdf