3-omega method for thermal conductivity measurements / Krzysztof WOJCIECHOWSKI, Elżbieta GODLEWSKA, Ryszard MANIA, Krzysztof MARS, Rafał ZYBAŁA // W: ELTE'07 [Dokument elektroniczny] : IX konferencja naukowa „Technologia elektronowa" ELTE 2007 : Kraków 4–7.09.2007 : materiały konferencyjne / red. nauk. Tomasz Stapiński, Barbara Swatowska, Katarzyna Zakrzewska, Wojciech Maziarz ; Katedra Elektroniki. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Akademii Górniczo-Hutniczej im. S. Staszica w Krakowie. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Kraków : s n.], [2008]. — 1 dysk optyczny. — ISBN10: 83-88309-51-X. — S. 183–186. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 186. — Tyt. przejęto z ekranu tytułowego

Badania przewodnictwa cieplnego powłok ochronnych materiałów termoelektrycznych — [Thermal conductivity measurements of protective layers for thermoelectric materials] / Krzysztof WOJCIECHOWSKI, Ryszard GAJERSKI, Elżbieta GODLEWSKA, Ryszard MANIA, Rafał ZYBAŁA // W: SAT'08 : V Szkoła Analizy Termicznej : 6–9 kwietnia 2008, Zakopane. — [Kraków] : s. n., 2008. — S. [1] Sesja posterowa

Microstructure of coatings from ${Cr-Si-N}$ and ${Ti-Si-N}$ systems / J. Grzonka, J. Morgiel, R. MANIA // W: EM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — ISBN: 978-83-60958-15-5. — S. 72

Microstructure of (Cr,Si)N coatings : abstract / J. Grzonka, J. Morgiel, R. MANIA // W: 2\textsuperscript{nd} Stanisław Gorczyca Workshop on Electron microscopy: new TEM techniques : 1–4.10.2008, Kraków : proceedings / eds. Beata Dubiel, Elżbieta Stępniowska, Aleksandra Czyrska-Filemonowicz. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, 2008. — Na s. tyt. dod.: ESTEEM – Enabling Science and Technology through European Electron Microscopy. — ISBN: 978-83-60958-23-0. — S. 300