Wykaz publikacji wybranego autora

Jerzy Nabielec, dr inż.

adiunkt

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektrotechnika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-8185-9479 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 7801484412

PBN: 5e70922c878c28a04739119f

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [referat, 2006]
  • TytułA ”blind” correction of dynamic error of a nonstationary first order transducer for the periodic case – simulation investigation
    AutorzyJerzy NABIELEC
    ŹródłoIMEKO XVIII world congress and IV Brazilian congress of metrology [Dokument elektroniczny] : IMEKO world congress metrologia Brazil 2006 : metrology for a sustainable development : September 17–22, 2006, Rio de Janeiro, Brazil / IMEKO. — [Rio de Janeiro, Brazil : LETRA CAPITAL Editora], [2006]. — S. 1–4
2
  • [referat, 2006]
  • TytułA simulation investigation of differential algorithm for the ”blind correction” of dynamic error in measuring channels with periodic nonstationarity
    AutorzyJerzy NABIELEC, Jacek NALEPA
    ŹródłoIMEKO XVIII world congress and IV Brazilian congress of metrology [Dokument elektroniczny] : IMEKO world congress metrologia Brazil 2006 : metrology for a sustainable development : September 17–22, 2006, Rio de Janeiro, Brazil / IMEKO. — [Rio de Janeiro, Brazil : LETRA CAPITAL Editora], [2006]. — S. 1–3
3
  • [referat, 1999]
  • TytułAn outlook on the DPS dynamic error blind correction of the analog part of the measurement channel
    AutorzyJerzy NABIELEC
    ŹródłoIMTC/99 : proceedings of the 16textsuperscript{th} IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference : Venice, Italy May 24–26, 1999. Vol. 2, Measurements for the new Millennium / eds. Vincenzo Piuri, Mario Savino ; Instrumentation & Measurement Society. — [Italy : s. n. : IEEE], [1999]. — S. 709–712
4
  • [referat, 2004]
  • TytułAn outlook on the dynamic error “blind” correction for the time-varying measurement channel
    AutorzyJerzy NABIELEC
    ŹródłoIMTC/04 [Dokument elektroniczny] : proceedings of the 21th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference : from the electrometer to the networked instruments: a giant step toward a deeper knowledge : Como, Italy May 18–20, 2004, [Vols. 1–3] / IEEE Instrumentation & Measurement Society. — [New York] : IEEE, 2004. — S. 152–155
5
  • [referat, 1999]
  • TytułBadanie odporności algorytmu korekcji błędu dynamicznego na zakłócenia harmoniczne
    AutorzyJerzy NABIELEC
    ŹródłoModelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały IX sympozjum : Krynica, 20–24 września 1999 / Akademia Górniczo-Hutnicza. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Zakład Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo ZM AGH, 1999. — S. 255–262
6
  • [referat, 2001]
  • TytułBlind correction of dynamic error for periodical signal
    AutorzyJ. NABIELEC
    ŹródłoSDEMPED 2001 record : the 2001 IEEE international Symposium on Diagnostics for Electrical Machines, Power Electronics and Drives : Grado, Italy, September 1-3, 2001. — [Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers], [2001]. — S. 339–344
7
  • [referat, 2002]
  • Tytuł“Blind” correction of the measurement dynamic error – simulation investigations of the oscillatory system
    AutorzyJerzy NABIELEC
    ŹródłoProceedings of the 8th IEEE international conference on Methods and Models in Automation and Robotics MMAR 2002 : robotics ; control engineering ; modeling, simulation and measurement : 2–5 September 2002 Szczecin, Poland, Vol. 2 / eds. S. Domek, R. Kaszyński. — Szczecin : Wydawnictwo Uczelniane Politechniki Szczecińskiej, 2002. — S. 1287–1290
8
  • [referat, 2002]
  • Tytuł“Blind” correction of the measurement dynamic error – simulation investigations of the second-order system
    AutorzyJerzy NABIELEC
    ŹródłoElectrical measurements and instrumentation : 12textsuperscript{th} IMEKO [International Measurement Confederation] TC4 international symposium : Zagreb, Croatia September 25–27, 2002 : proceedings, Pt. 1 / eds. Damir Ilić, Mladen Boršić, Josip Butorac ; IMEKO. — Zagreb : Croatian Metrology Society, 2002. — S. 205–208
9
  • [patent, wzór użytkowy, przemysłowy, 2015]
  • TytułDivisor de tensión adaptativa con característica de frecuencia corregida para la medición de altas tensiones
    InventorAkademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; wynalazca: NABIELEC Jerzy
    DetailsInt.Cl.: G01R 15/06textsuperscript{(2006.01)}. — Oficina Española de Pantentes y Marcas, España. — tłumaczenie patentu europejskiego ; ES 2539179 T3 ; Udziel. 2015-03-18 ; Opubl. 2015-06-26. — Zgłosz. nr ES20120761552 z dn. 2012-08-17. — tekst: http://patenty.bg.agh.edu.pl/pelneteksty/ES2539179T3.pdf
10
  • [artykuł w czasopiśmie, 1999]
  • TytułDługość słowa procesora a dokładność korekcji błędów dynamicznych wzmacniacza pomiarowego – badania symulacyjne
    AutorzyJerzy NABIELEC
    ŹródłoZeszyty Naukowe / Politechnika Śląska ; nr 1412. Elektryka. — 1999 z. 165, s. 59–68
11
  • [referat, 1999]
  • TytułDokładność korekcji błędu dynamicznego w zależności od kształtu mierzonego sygnału
    AutorzyJerzy NABIELEC
    ŹródłoModelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały IX sympozjum : Krynica, 20–24 września 1999 / Akademia Górniczo-Hutnicza. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Zakład Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo ZM AGH, 1999. — S. 263–270
12
  • [referat, 2003]
  • TytułDynamic error correction for measurement system with differentiating sensors
    AutorzyJerzy NABIELEC, Barbara BISZTYGA
    ŹródłoXVII IMEKO world congress : metrology in the 3textsuperscript{rd} Millennium : June 22–27, 2003 Dubrovnik, Croatia : book of summaries / eds. Damir Ilić, Mladen Boršić, Josip Butorac ; IMEKO International Measurement Confederation, HMD Croatian Metrology Society. — [Dubrovnik] : Croatian Metrology Society : International Measurement Confederation, cop. 2003. — S. 95
13
  • [referat, 2016]
  • TytułDzielnik napięcia z autokalibracją - przegląd struktur
    AutorzyJerzy NABIELEC, Andrzej WETULA
    ŹródłoVII Kongres Metrologii pod hasłem Metrologia fundamentem postępu w naukach stosowanych : Lublin-Nałęczów, 28.06–01.07.2016 r. : materiały konferencyjne / oprac. red. Waldemar Wójcik. — Lublin : Politechnika Lubelska, 2016. — S. 111–112
14
  • [referat, 2016]
  • TytułDzielnik napięcia z autokalibracją - wersja z pojedynczą kompensacją
    AutorzyJerzy NABIELEC, Andrzej WETULA
    ŹródłoVII Kongres Metrologii pod hasłem Metrologia fundamentem postępu w naukach stosowanych : Lublin-Nałęczów, 28.06–01.07.2016 r. : materiały konferencyjne / oprac. red. Waldemar Wójcik. — Lublin : Politechnika Lubelska, 2016. — S. 113–114
15
  • [zgłoszenie patentowe, 2017]
  • TytułDzielnik wysokiego napięcia
    InventorAkademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; wynalazca: NABIELEC Jerzy, BISZTYGA Barbara
    DetailsInt.Cl.: G01R 15/04textsuperscript{(2006.01)}. — Polska. — Opis zgłoszeniowy wynalazku ; PL 414972 A1 ; Opubl. 2017-06-05. — Zgłosz. nr P.414972 z dn. 2015-11-26 // Biuletyn Urzędu Patentowego ; 2017  nr 12, s. 55. — tekst: http://patenty.bg.agh.edu.pl/pelneteksty/PL414972A1.pdf
16
  • [referat, 2009]
  • TytułEksperymentalna weryfikacja korekcji dynamiki metodą „w ciemno” w zastosowaniu do czujników II-go rzędu
    AutorzyJerzy NABIELEC, Jarosław Krata
    ŹródłoKierunki działalności i współpraca naukowa Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki : materiały konferencji zorganizowanej z okazji Jubileuszu 90-lecia AGH : Kraków, 28–29 maja 2009 / komitet red. Wojciech Mitkowski, Adam Piłat. — Kraków : AGH WEAIiE, cop. 2009. — S. 219–220
17
  • [referat, 2019]
  • TytułEksperymentalne badania aktywnego dzielnika napięcia z autokalibracją dla wybranych wzmacniaczy operacyjnych : [streszczenie]
    AutorzySzymon BARCZENTEWICZ, Jerzy NABIELEC, Andrzej WETULA
    ŹródłoVIII Kongres Metrologii [Dokument elektroniczny] : 09.06–13.06.2019, Augustów. — [Białystok : Politechnika Białostocka], [2019]. — S. [1]
18
  • [referat, 1999]
  • TytułEvaluation of the dynamic features of the shunt
    AutorzyJerzy NABIELEC, Adam MOROŃCZYK
    ŹródłoUEES'99 : proceedings of the 4textsuperscript{th} international conference on Unconventional Electromechanical and Electrical Systems : 21–24 June 1999, St. Petersburg, Russia, Vol. 2 / Technical University of Szczecin. Institure of Electrical Engineering, St. Petersburg State Technical University. Electromechanical Faculty. — Szczecin : Technical University Press, 1999. — S. 671–674
19
  • [artykuł w czasopiśmie, 2005]
  • TytułHybrydowy algorytm korekcji „w ciemno” dla torów pomiarowych niskiego rzędu
    AutorzyJerzy NABIELEC, Paweł Jamróz, Andrzej SKALSKI
    ŹródłoElektrotechnika i Elektronika : półrocznik Akademii Górniczo-Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie. — 2005 t. 24 z. 2, s. 165–171. — tekst: https://journals.bg.agh.edu.pl/ELEKTROTECHNIKA/24-2/elektro05.pdf
20
  • [referat, 1999]
  • TytułIntegracja systemu do pomiaru energii cieplnej
    AutorzyJaromir Przybyło, Jerzy NABIELEC
    ŹródłoMetody i systemy komputerowe w badaniach naukowych i projektowaniu inżynierskim : II krajowa konferencja : Kraków, 25–27 października 1999 : materiały konferencyjne / red.: R. Tadeusiewicz [et al.] ; Krakowskie Centrum Informatyki Stosowanej = Cracow Centre for Advanced Training in Information Engineering. — Kraków : KCIS, 1999. — S. 131–136
21
  • [referat, 2004]
  • TytułInternet aided education system
    AutorzyJerzy NABIELEC, Pavel Wojtasinski
    ŹródłoIMTC/04 : proceedings of the 21th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference : from the electrometer to the networked instruments: a giant step toward a deeper knowledge : Como, Italy May 18–20, 2004, Vol. 2 / eds. Serge Demidenko, [et al.] ; Institute of Electrical and Electronics Engineers. Instrumentation and Measurement Society. — [New York : IEEE], [2004]. — S. 1151–1154
22
  • [referat, 2005]
  • TytułKorekcja błędu dynamicznego niestacjonarnego systemu pomiarowego I-rzędu metodą „w ciemno” dla wybranego przypadku okresowego
    AutorzyJerzy NABIELEC, Andrzej ZATORSKI
    ŹródłoModelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XV sympozjum : Krynica, 18–22 września 2005 / pod red. Janusza Gajdy ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Katedra Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2005. — S. 53–60
23
  • [referat w czasopiśmie, 2002]
  • TytułKorekcja błędu dynamicznego pomiaru metodą „w ciemno” – badania symulacyjne obiektu pierwszego rzędu
    AutorzyJerzy NABIELEC, Jacek NALEPA
    ŹródłoPomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR. — 2002 nr 5/6, s. 25–28
24
  • [referat, 2003]
  • TytułKorekcja „w ciemno” przetworników I rzędu
    AutorzyJerzy NABIELEC
    ŹródłoModelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XIII sympozjum : Krynica, 8–11 września 2003 / pod red. Janusza Gajdy ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Katedra Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2003. — S. 87–94
25
  • [referat, 2003]
  • TytułLabVIEW w dydaktyce Zakładu Metrologii AGH
    AutorzyJerzy NABIELEC
    ŹródłoXXXV MKM 2003 : XXXV Międzyuczelniana Konferencja Metrologów : Kraków, 8–11 września 2003 r. / materiały pod red. Janusza Gajdy. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2003. — S. 275–278